ZHCSJ15C November 2018 – March 2025 ADC12DJ3200QML-SP
PRODUCTION DATA
- 1
- 1 特性
- 2 應(yīng)用
- 3 說明
- 4 引腳配置和功能
- 5 規(guī)格
-
6 詳細(xì)說明
- 6.1 概述
- 6.2 功能方框圖
- 6.3 特性說明
- 6.4 器件功能模式
- 6.5 編程
- 6.6 寄存器映射
- 7 應(yīng)用信息免責(zé)聲明
- 8 器件和文檔支持
- 9 修訂歷史記錄
- 10機(jī)械、封裝和可訂購信息
封裝選項
請參考 PDF 數(shù)據(jù)表獲取器件具體的封裝圖。
機(jī)械數(shù)據(jù) (封裝 | 引腳)
- NWE|196
散熱焊盤機(jī)械數(shù)據(jù) (封裝 | 引腳)
訂購信息
6.4.6 校準(zhǔn)模式和修整
ADC12DJ3200QML-SP 有兩種校準(zhǔn)模式：前臺校準(zhǔn)和后臺校準(zhǔn)。啟動前臺校準(zhǔn)時，ADC 會自動離線以進(jìn)行校準(zhǔn)，在校準(zhǔn)進(jìn)行中時輸出數(shù)據(jù)變?yōu)橹虚g碼（二進(jìn)制補(bǔ)碼中的 0x000）。后臺校準(zhǔn)使 ADC 能夠繼續(xù)正常運(yùn)行，同時通過交換不同的 ADC 內(nèi)核來代替 ADC 內(nèi)核，在后臺校準(zhǔn) ADC 內(nèi)核。前臺和后臺校準(zhǔn)模式下都提供了額外的失調(diào)電壓校準(zhǔn)功能。此外，可以修整許多 ADC 參數(shù)以優(yōu)化用戶系統(tǒng)中的性能。
ADC12DJ3200QML-SP 由總共六個子 ADC 組成，每個子 ADC 稱為一個組，其中兩個組構(gòu)成一個 ADC 內(nèi)核。組以異相采樣方式進(jìn)行采樣，這樣每個 ADC 內(nèi)核均為雙向交錯。六個組構(gòu)成三個 ADC 內(nèi)核，稱為 ADC A、ADC B 和 ADC C。在前臺校準(zhǔn)模式下，ADC A 可以雙通道模式采樣 INA±，ADC B 可以雙通道模式采樣 INB±，并且 ADC A 和 ADC B 均以單通道模式采樣 INA±（或 INB±）。在后臺校準(zhǔn)模式下，第三個 ADC 內(nèi)核 ADC C 會定期交換 ADC A 和 ADC B，以便可以在不中斷運(yùn)行的情況下對其進(jìn)行校準(zhǔn)。圖 6-23示出了校準(zhǔn)系統(tǒng)圖，其中對組成每個 ADC 內(nèi)核的組進(jìn)行了標(biāo)記。執(zhí)行校準(zhǔn)時，每組的線性度，增益和失調(diào)電壓根據(jù)內(nèi)部生成的校準(zhǔn)信號進(jìn)行校準(zhǔn)。在校準(zhǔn)期間，前臺和后臺都可以驅(qū)動模擬輸入，除非使用偏移校準(zhǔn)（OS_CAL 或 BGOS_CAL）時，直流附近必須沒有信號（或混疊信號），以便正確估算偏移（請參閱偏移校準(zhǔn) 部分）。
圖 6-23 ADC12DJ3200QML-SP 校準(zhǔn)系統(tǒng)方框圖除了校準(zhǔn)之外，許多 ADC 參數(shù)是用戶可控制的，為了達(dá)到最佳性能可進(jìn)行修整。這些參數(shù)包括輸入失調(diào)電壓、ADC 增益、交錯定時和輸入端接電阻。默認(rèn)修整值在出廠時被編程為每個器件的唯一值，這些器件在測試系統(tǒng)工作條件下被確定為最佳值。用戶可以從修整寄存器中讀取出廠編程值，并根據(jù)需要進(jìn)行調(diào)整。根據(jù)正在被采樣的輸入（INA± 或 INB±）、正在被修整的組或正在被修整的 ADC 內(nèi)核，對控制修整的寄存器字段進(jìn)行標(biāo)記。不要求用戶隨著運(yùn)行條件的變化而更改修整值，但這樣可以達(dá)到最佳性能。由于工藝差異，任何定制修整都必須基于每個器件的情況，這意味著所有器件都沒有全局最佳設(shè)置。有關(guān)可用的修整參數(shù)和相關(guān)寄存器信息，請參閱 修整 部分。