ZHCSJ15C November   2018  – March 2025 ADC12DJ3200QML-SP

PRODUCTION DATA  

1.   1
2. 1 特性
3. 2 應用
4. 3 說明
5. 4 引腳配置和功能
6. 5 規格
   1. 5.1  絕對最大額定值
   2. 5.2  ESD 等級
   3. 5.3  建議運行條件
   4. 5.4  熱性能信息
   5. 5.5  電氣特性：直流規格
   6. 5.6  電氣特性：功耗
   7. 5.7  電氣特性：交流規格（雙通道模式）
   8. 5.8  電氣特性：交流規格（單通道模式）
   9. 5.9  時序要求
   10. 5.10 開關特性
   11. 5.11 時序圖
   12. 5.12 典型特性
7. 6 詳細說明
   1. 6.1 概述
   2. 6.2 功能方框圖
   3. 6.3 特性說明
      1. 6.3.1 模擬輸入
         1. 6.3.1.1 模擬輸入保護
         2. 6.3.1.2 滿量程電壓 (VFS) 調整
         3. 6.3.1.3 模擬輸入失調電壓調整
      2. 6.3.2 ADC 內核
         1. 6.3.2.1 ADC 工作原理
         2. 6.3.2.2 ADC 內核校準
         3. 6.3.2.3 ADC 超范圍檢測
         4. 6.3.2.4 誤碼率 (CER)
      3. 6.3.3 時間戳
      4. 6.3.4 時鐘
         1. 6.3.4.1 無噪聲孔徑延遲調節（tAD 調節）
         2. 6.3.4.2 孔徑延遲斜坡控制 (TAD_RAMP)
         3. 6.3.4.3 用于多器件同步和確定性延遲的 SYSREF 采集
            1. 6.3.4.3.1 SYSREF 位置檢測器和采樣位置選擇（SYSREF 窗口）
            2. 6.3.4.3.2 自動 SYSREF 校準
      5. 6.3.5 數字下變頻器（僅限雙通道模式）
         1. 6.3.5.1 數控振蕩器和復頻混頻器
            1. 6.3.5.1.1 NCO 快速跳頻 (FFH)
            2. 6.3.5.1.2 NCO 選擇
            3. 6.3.5.1.3 基本 NCO 頻率設置模式
            4. 6.3.5.1.4 合理 NCO 頻率設置模式
            5. 6.3.5.1.5 NCO 相位偏移設置
            6. 6.3.5.1.6 NCO 相位同步
         2. 6.3.5.2 抽取濾波器
         3. 6.3.5.3 輸出數據格式
         4. 6.3.5.4 抽取設置
            1. 6.3.5.4.1 抽取因子
            2. 6.3.5.4.2 DDC 增益提升
      6. 6.3.6 JESD204B 接口
         1. 6.3.6.1 傳輸層
         2. 6.3.6.2 擾頻器
         3. 6.3.6.3 鏈路層
            1. 6.3.6.3.1 代碼組同步 (CGS)
            2. 6.3.6.3.2 初始通道對齊序列 (ILAS)
            3. 6.3.6.3.3 8b、10b 編碼
            4. 6.3.6.3.4 幀和多幀監控
         4. 6.3.6.4 物理層
            1. 6.3.6.4.1 串行器/解串器預加重功能
         5. 6.3.6.5 JESD204B 啟用
         6. 6.3.6.6 多器件同步和確定性延遲
         7. 6.3.6.7 在子類 0 系統中運行
      7. 6.3.7 報警監控
         1. 6.3.7.1 NCO 翻轉檢測
         2. 6.3.7.2 時鐘翻轉檢測
      8. 6.3.8 溫度監測二極管
      9. 6.3.9 模擬基準電壓
   4. 6.4 器件功能模式
      1. 6.4.1 雙通道模式
      2. 6.4.2 單通道模式（DES 模式）
      3. 6.4.3 JESD204B 模式
         1. 6.4.3.1 JESD204B 輸出數據格式
         2. 6.4.3.2 雙 DDC 和冗余數據模式
      4. 6.4.4 斷電模式
      5. 6.4.5 測試模式
         1. 6.4.5.1 串行器測試模式詳細信息
         2. 6.4.5.2 PRBS 測試模式
         3. 6.4.5.3 斜坡測試模式
         4. 6.4.5.4 近程和遠程傳輸測試模式
            1. 6.4.5.4.1 近程傳輸測試模式
            2. 6.4.5.4.2 遠程傳輸測試模式
         5. 6.4.5.5 D21.5 測試模式
         6. 6.4.5.6 K28.5 測試模式
         7. 6.4.5.7 重復 ILA 測試模式
         8. 6.4.5.8 修改的 RPAT 測試模式
      6. 6.4.6 校準模式和修整
         1. 6.4.6.1 前臺校準模式
         2. 6.4.6.2 后臺校準模式
         3. 6.4.6.3 低功耗后臺校準 (LPBG) 模式
      7. 6.4.7 偏移校準
      8. 6.4.8 修整
      9. 6.4.9 偏移濾波
   5. 6.5 編程
      1. 6.5.1 使用串行接口
         1. 6.5.1.1 SCS
         2. 6.5.1.2 SCLK
         3. 6.5.1.3 SDI
         4. 6.5.1.4 SDO
         5. 6.5.1.5 流模式
   6. 6.6 寄存器映射
      1. 6.6.1 寄存器說明
      2. 6.6.2 SYSREF 校準寄存器（0x2B0 至 0x2BF）
      3. 6.6.3 警報寄存器 (0x2C0至0x2C2)
8. 7 應用信息免責聲明
   1. 7.1 應用信息
      1. 7.1.1 模擬輸入
      2. 7.1.2 模擬輸入帶寬
      3. 7.1.3 時鐘
      4. 7.1.4 輻射環境建議
         1. 7.1.4.1 單粒子閂鎖 (SEL)
         2. 7.1.4.2 單粒子功能中斷 (SEFI)
         3. 7.1.4.3 單粒子翻轉 (SEU)
   2. 7.2 典型應用
      1. 7.2.1 設計要求
      2. 7.2.2 詳細設計過程
         1. 7.2.2.1 射頻輸入信號路徑
         2. 7.2.2.2 計算交流耦合電容的值
      3. 7.2.3 應用曲線
   3. 7.3 初始化設置
   4.     電源相關建議
      1. 7.4.1 電源時序
   5. 7.4 布局
      1. 7.4.1 布局指南
      2. 7.4.2 布局示例
9. 8 器件和文檔支持
   1. 8.1 器件支持
      1. 8.1.1 開發支持
   2. 8.2 文檔支持
      1. 8.2.1 相關文檔
   3. 8.3 第三方產品免責聲明
   4. 8.4 接收文檔更新通知
   5. 8.5 支持資源
   6. 8.6 商標
   7. 8.7 靜電放電警告
   8. 8.8 術語表
10. 9 修訂歷史記錄
11. 10機械、封裝和可訂購信息