LMG3527R030
- 帶集成柵極驅動器的 650V GaN-on-Si FET
- 集成高精度柵極偏置電壓
- 200V/ns FET 釋抑
- 2MHz 開關頻率
- 20V/ns 至 150V/ns 壓擺率,用于優化開關性能與緩解 EMI
- 由 7.5V 至 18V 電源供電
- 強大的保護
- 響應時間 < 100ns 的逐周期過流與鎖存短路保護
- 硬開關時可承受 720V 浪涌
- 針對內部過熱和 UVLO 監控的自我保護
- 高級電源管理
- 數字溫度 PWM 輸出
- LMG3526R030 包括有助于實現軟開關轉換器的零電壓檢測功能 (ZVD)
- LMG3527R030 包括有助于實現軟開關轉換器的零電流檢測功能(ZCD)
- 頂部冷卻 12mm × 12mm VQFN 封裝將電氣路徑和散熱路徑分開,可實現超低的電源環路電感
LMG352xR030 GaN FET 具有集成式驅動器和保護功能,適用于開關模式電源轉換器,能夠讓設計人員實現更高水平的功率密度與效率。
LMG352xR030 集成了一個硅驅動器,可實現高達 150V/ns 的開關速度。與分立式硅柵極驅動器相比,TI 的集成式精密柵極偏置可實現更高的開關 SOA。這種集成特性與 TI 的低電感封裝技術相結合,可在硬開關電源拓撲中提供干凈的開關和超小的振鈴。可調柵極驅動強度允許將壓擺率控制在 20V/ns 至 150V/ns 之間,這可用于主動控制 EMI 并優化開關性能。LMG3526R030包含零電壓檢測(ZVD)功能,能夠在實現零電壓開關時提供 ZVD 引腳脈沖輸出。LMG3527R030 包含零電流檢測(ZCD)功能,能夠在檢測到源極到漏極的正向電流時提供 ZCD 引腳脈沖輸出。
高級電源管理功能包括數字溫度報告和故障檢測。GaN FET 的溫度通過可變占空比 PWM 輸出進行報告,這可簡化器件加載管理。報告的故障包括過流、短路、過熱、VDD UVLO 以及高阻抗 RDRV 引腳。
技術文檔
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| * | 數據表 | 集成了驅動器、保護與溫度報告功能的 LMG352xR030 650 V 30 m? GaN FET 數據表 (Rev. B) | PDF | HTML | 英語版 (Rev.B) | PDF | HTML | 2025年 2月 13日 |
設計和開發
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計算工具
Device Loss Calculator can be used to evaluate different devices for different topologies of the LLC Resonant Converter
參考設計
PMP23475 — 具有零電流檢測功能、基于 GaN 的 5kW 兩相圖騰柱 PFC 參考設計
此參考設計是一款高密度、高效率的 5kW 功率因數校正 (PFC) 轉換器,采用了 TI 高性能氮化鎵 (GaN) 電源開關。峰值系統效率為 99.2%,該數值在 120W/in3 開放式框架功率密度下測得。該功率級在基于零電流檢測 (ZCD) 的全新控制機制中采用兩相圖騰柱 PFC。新的控制方法采用變頻工作,并在所有工作行條件下保持零電壓開關 (ZVS)。該控制通過 TMS320F280039C 高性能微控制器和集成了 ZCD 檢測感測功能的 LMG3527R030 GaN 場效應晶體管 (FET) 來實現。轉換器的工作頻率范圍約介于 100kHz 和 800kHz 之間。
測試報告: PDF
| 封裝 | 引腳 | CAD 符號、封裝和 3D 模型 |
|---|---|---|
| VQFN (RQS) | 52 | Ultra Librarian |
訂購和質量
包含信息:
- RoHS
- REACH
- 器件標識
- 引腳鍍層/焊球材料
- MSL 等級/回流焊峰值溫度
- MTBF/時基故障估算
- 材料成分
- 鑒定摘要
- 持續可靠性監測
包含信息:
- 制造廠地點
- 封裝廠地點
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