基于短路電壓的保護方案通常使用柵極驅動器中的 DESAT 功能來實現。OC 檢測方法有時也用于基于電壓的保護方案。因此，有以下兩種選擇：

• 使用 DESAT 引腳檢測 FET 上的 V_SC 電壓
• 使用 OC 引腳檢測 FET 上的 V_SC 電壓

選項 1：使用 DESAT 引腳檢測 FET 上的 V_SC 電壓：

電源模塊中的典型電壓檢測方法是使用 DESAT 節點，如圖 4-4 所示。高壓漏極節點通過 1 個或 2 個高壓二極管和一個限流電阻器 (R_LIM) 連接到 DESAT 引腳。DESAT 引腳上還連接了一個消隱電容器 (C_BLK)。DESAT 節點具有一個內部電流源，該電流源在內部連接到 VDD BIAS（次級隔離式偏置）。當 INP 為高電平時，內部電流源將通過 DESAT 引腳提供 (I_CHG) 電流。當 INP 為低電平時，電流源路徑處于不活動狀態。

在正常運行期間，電源模塊上的電壓較低，因此高壓二極管 (D_{HV 1, 2}) 正向偏置，電流流過二極管和電源模塊。但是，在短路事件期間，電源模塊上的電壓較高，這會導致 D_{HV1, 2} 反向偏置；因此，DESAT 電流路徑斷開。因此，I_CHG 為 C_BLK 電容器充電。當 DESAT 引腳上的電壓超過檢測閾值時，會觸發 DESAT 故障并關閉柵極驅動器輸出，以保護系統。關閉操作將在單獨一節中討論，因為 SC/OC 事件期間涉及高 di/dt，因此關閉操作需要特別考慮。

柵極驅動器的內部電流源通常約為 500μA 至 2mA。為了實現更快的保護，可通過使用一個電阻器將 DESAT 節點連接到 VDD/OUTH 來規劃外部電流源路徑。這一概念也可用于 OC 引腳。

選項 2：使用 OC 引腳檢測 FET 上的 V_SC 電壓

OC 引腳通常用于檢測電流，如“基于電流的保護方法”部分所述。但是，OC 引腳也可通過從 VDD/OUT 提供電流源來實現基于 V_SC 的電壓檢測，如圖 4-5 所示。與 DESAT 概念類似，在正常運行期間，VDD/OUT 充電電流路徑通過電源模塊，而在 OC/SC 事件期間，電流路徑通過 C_FLT 電容器并會觸發 OC 事件。

這里使用 DESAT 或 OC 引腳說明了基于 V_SC 和 I_SC 的保護方法。基于 I_SC 的保護方法更快，但如果使用 R_shunt，則會導致功率損耗增加，或者需要使用具有檢測引腳的電源模塊來實現 R_sense 方法。由于這些原因，SiC 和 IGBT 模塊中都常常使用基于 DESAT 的方法。在本應用手冊中，數據是基于 DESAT 和 OC 引腳的 V_SC 方法收集的。