ZHCSRX7 june 2023 BQ79616
PRODUCTION DATA
該器件可以檢測(cè) VC 和 CB 引腳上的開(kāi)路連接。每個(gè) VC 和 CB 引腳均連接了一個(gè)電流阱,但 VC0 和 CB0 引腳除外,這些引腳連接了電流源。
當(dāng)電流阱(或電流源)啟用并且存在開(kāi)路連接時(shí),外部差分電容器將耗盡,電芯電壓測(cè)量值將隨著時(shí)間的推移下降到異常水平。類似的檢測(cè)概念適用于帶有電流源的 VC0 和 CB0 引腳。如果存在開(kāi)路連接,VC0 或 CB0 將被電流源上拉,從而使電芯電壓測(cè)量值隨著時(shí)間的推移而降低。
啟用診斷比較后,器件會(huì)將來(lái)自主 ADC 的電池電壓測(cè)量值(用于 VC 引腳開(kāi)路檢測(cè))與主機(jī)編程的閾值進(jìn)行比較;或者將來(lái)自 AUX ADC 的 AUX 電芯測(cè)量值(用于 CB 引腳開(kāi)路檢測(cè))與主機(jī)編程的閾值進(jìn)行比較。
如果 MCU 在開(kāi)始 CB 開(kāi)路檢查之前通過(guò) [AUX_CELL_SEL] 鎖定至單個(gè) CB 通道,則器件會(huì)報(bào)告用于檢查比較的 AUX 電芯測(cè)量值。該值在 DIAG_AUX_HI/LO 寄存器中報(bào)告。由于主 ADC 中沒(méi)有單通道鎖定機(jī)制,因此用于 VC 開(kāi)路的 VC 通道測(cè)量值將不會(huì)在 DIAG_MAIN_HI/LO 寄存器中報(bào)告。
圖 8-51 開(kāi)路檢測(cè)在開(kāi)始開(kāi)路比較之前,主機(jī)確保:
要開(kāi)始開(kāi)路比較,請(qǐng)執(zhí)行以下操作:
主機(jī)檢查 FAULT_COMP_VCOW1/2 或 FAULT_COMP_CBOW1/2 寄存器以獲取比較結(jié)果。