ZHCSRX7 june 2023 BQ79616
PRODUCTION DATA
| 地址 | 0x033C | |||||||
| RW | 位 7 | 位 6 | 位 5 | 位 4 | 位 3 | 位 2 | 位 1 | 位 0 |
| 名稱 | 被保留 | CBFET_CTRL_GO | OW_SNK[1:0] | COMP_ADC_SEL[2:0] | COMP_ADC _GO | |||
| 復位 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 |
| RSVD = | 被保留 | |||||||
| CBFET_CTRL_GO = | 當該 GO 位 = 1 時,器件開啟所配置的 CBFET,并關閉 DIAG_CBFET_CTRL1/2 寄存器中清除的任何 CBFET。僅當 CB 未運行或處于暫停狀態時才會執行此 GO 操作,否則,CBFET 由常規 CB 控制進行控制。 如果 CBFET 通過該 GO 位開啟,一旦 CB 啟動或恢復,CBFET 控制將返回到常規 CB 控制(而不是通過該 GO 位操作) | |||||||
| OW_SNK[1:0] = | 開啟 VC 引腳、CB 引腳或 BBP/N 引腳上的電流阱。對這些位所做的更改將立即生效。主機 MCU 負責在執行開路 (OW) 測試之前開啟正確的灌電流,并在 OW 測試完成后關閉灌電流。 00 = 所有 VC,BBP/N,CB 引腳灌電流關閉。 01 = 開啟所有 VC 引腳上的灌電流 10 = 開啟所有 CB 引腳上的灌電流 11 = 開啟 BBP/N 引腳上的灌電流 | |||||||
| COMP_ADC_SEL[2:0] = | 支持通過 ADC 測量進行器件診斷比較。在啟用此診斷之前,主機以連續模式啟用相應的 ADC。當 [COMP_ADC_GO] = 1 時,將對這些位進行采樣。 000 = 不執行 ADC 比較 001 = 電芯電壓測量檢查。 器件將根據以下標準比較 [AUX_CELL_SEL4:0] 指定的電芯通道: VCELL(來自主 ADC)與 AUXCELL(來自 AUX ADC)的差值小于 [VCCB_THR4:0]。 當比較完成時,[DRDY_VCCB] = 1。 010 = VC 引腳上的開路 (OW) 檢查。 在啟用此比較之前,MCU 通過 [OW_SNK1:0] 啟用所有 VC 引腳上的電流阱。器件將根據以下標準比較由 ACTIVE_CELL 寄存器指定的相應 VC 引腳:VCELL(來自主 ADC)小于 DIAG_COMP_CTRL2 [OW_THR3:0]。 比較完成時,[DRDY_VC_OW] = 1。 011 = CB 引腳上的開路 (OW) 檢查 在啟用此比較之前,MCU 通過 [OW_SNK1:0] 啟用所有 VC 引腳上的電流阱。器件將根據以下標準比較由 [AUX_CELL_SEL4:0] 指定的相應 CB 引腳:AUXCELL(來自 AUX ADC)小于 DIAG_COMP_CTRL2 [OW_THR3:0]。當比較完成時,[DRDY_CBOW] = 1。 100 = CBFET 檢查。 在開始此檢查之前,MCU 預先配置以下內容:
AUXCELL(來自 AUX ADC)< VCELL 的 1/3(來自主 ADC)。比較完成時,[DRDY_CBFET] = 1。 101 = GPIO 測量檢查(適用于配置為 ADC 和 OTUT 輸入或僅 ADC 輸入的 GPIO)。 器件將主 GPIO 測量值與 AUX GPIO 測量值進行比較,差值小于 [GPIO_THR2:0]。當比較完成時,[DRDY_GPIO] = 1。 其他代碼:不進行 ADC 比較 | |||||||
| COMP_ADC_GO = | 器件啟動由 [COMP_ADC_SEL2:0] 設置指定的診斷測試。當該位寫入 1 時,將對所選的 [COMP_ADC_SEL2:0] 進行采樣。除非再次將該 GO 位寫入 1,否則更改 [COMP_ADC_SEL2:0] 設置不會產生任何影響。 該位在讀取時清零。 0 = 就緒。寫入 0 無效 1 = [COMP_ADC_SEL2:0] 選擇的星型診斷 | |||||||