SPI 輸入和輸出數(shù)據(jù)完整性以及寄存器數(shù)據(jù)內(nèi)容受到監(jiān)控。這是為了確保正確的數(shù)據(jù)通信和存儲(chǔ)，以設(shè)置驅(qū)動(dòng)器參數(shù)和功能。

當(dāng) UCC5870-Q1 轉(zhuǎn)換到運(yùn)行狀態(tài)時(shí)，配置和控制寄存器的內(nèi)容受 CRC 引擎保護(hù)。使用適當(dāng)?shù)呐渲梦粏⒂门渲?CRC。數(shù)據(jù)表中概述了受 CRC 保護(hù)的各種寄存器。CRC 故障檢測每 t_CRCCFG（通常為 1ms）執(zhí)行一次。如果計(jì)算出的配置寄存器 CRC 校驗(yàn)和與進(jìn)入運(yùn)行狀態(tài)時(shí)計(jì)算出的 CRC 校驗(yàn)和不匹配，則會(huì)設(shè)置狀態(tài)位，如果未屏蔽，nFLT1輸出會(huì)變?yōu)榈碗娖健４送猓瑢τ诖渭墏?cè) CRC 失效，驅(qū)動(dòng)器輸出強(qiáng)制進(jìn)入配置寄存器中預(yù)定義的狀態(tài)。還提供 CRC 校驗(yàn)診斷。可以命令一個(gè)控制寄存器來在初級側(cè)或次級側(cè)引起一個(gè) CRC 錯(cuò)誤。

檢查 SPI 傳輸?shù)?CRC 會(huì)隨著 SPI 流量的接收/發(fā)送而持續(xù)更新。每接收到 16 位更新一次 CRC。在這組命令中，配置會(huì)更新并與該命令進(jìn)行比較。

隨著 SPI 數(shù)據(jù)幀的接收，會(huì)持續(xù)計(jì)算 SDI CRC 校驗(yàn)和數(shù)據(jù)。一旦 MCU 寫入到 CRC 數(shù)據(jù)傳輸 (TX) 位，這便會(huì)觸發(fā) CRC TX 位中的數(shù)據(jù)與內(nèi)部計(jì)算出的 CRC 的比較。比較完成后，CRC 計(jì)算邏輯被復(fù)位。當(dāng) CRC TX 數(shù)據(jù)和內(nèi)部計(jì)算的 CRC 之間存在不匹配時(shí)，狀態(tài)位會(huì)置位，如果未屏蔽，nFLT1 輸出拉低，并根據(jù)預(yù)配置的寄存器設(shè)置來設(shè)置輸出。

隨著在 SDO 按時(shí)鐘輸出數(shù)據(jù)，系統(tǒng)會(huì)持續(xù)計(jì)算 SDO CRC 校驗(yàn)和。產(chǎn)生的 CRC 存儲(chǔ)在 CRC 接收 (RX) 數(shù)據(jù)位中。每當(dāng)芯片選擇 nCS 從低電平轉(zhuǎn)換為高電平時(shí)，這些位都會(huì)更新。讀取 CRC RX 位時(shí)，CRC 計(jì)算邏輯被復(fù)位。

每次上電后，UCC5870-Q1 都會(huì)在初級側(cè)和次級側(cè)的內(nèi)部非易失性存儲(chǔ)器上執(zhí)行 TRIM CRC 檢查。如果計(jì)算出的 CRC 校驗(yàn)和與存儲(chǔ)在內(nèi)部 TRIM 存儲(chǔ)器中的 CRC 校驗(yàn)和不匹配，則會(huì)設(shè)置狀態(tài)位，如果未屏蔽、nFLT1 出會(huì)變?yōu)榈碗娖健４送猓瑢τ诖渭墏?cè) CRC 失效，驅(qū)動(dòng)器輸出會(huì)強(qiáng)制進(jìn)入預(yù)定義狀態(tài)。