第一階段是利用內(nèi)置的環(huán)回模式確定相位測量的基準(zhǔn)值。該基準(zhǔn)能夠消除器件中的任何相位偏移，僅測量負(fù)載的相位。該測量值僅針對通道 1 與通道 3。通道 2 將利用通道 1 的結(jié)果進(jìn)行計(jì)算。通道 4 將利用通道 3 的結(jié)果進(jìn)行計(jì)算。依次測量通道 1 與通道 3，不能同時(shí)測量。
對于環(huán)回延遲檢測，請使用以下測試程序：
BTL 模式
- 將 AC_DIAGS_LOOPBACK 位（寄存器 0x16 第 7 位）設(shè)置為 1，以便啟用環(huán)回模式
- 在寄存器 0x2A 中設(shè)置適當(dāng)?shù)臏y試頻率，默認(rèn)值為 18.75kHz
- 對于通道 1，將寄存器 0x15 第 3 位設(shè)置為 1。對于通道 3，將寄存器 0x15 第 1 位設(shè)置為 1
- 讀取十六進(jìn)制值的 AC_LDG_Phase1 值。寄存器 0x1B 存儲(chǔ)高字節(jié)（MSB），寄存器 0x1C 存儲(chǔ)低字節(jié)（LSB）
- 對于通道 1，將寄存器 0x15 第 3 位設(shè)置為 0。對于通道 3，將寄存器 0x15 第 1 位設(shè)置為 0
PBTL 模式
- 將 AC_DIAGS_LOOPBACK 位（寄存器 0x16 第 7 位）設(shè)置為 1，以便啟用 AC 環(huán)回模式
- 將 PBTL CH12 與 PBTL CH34 位（寄存器 0x00 第 5 與 4 位）設(shè)置為 0。必須在器件處于待機(jī)狀態(tài)時(shí)執(zhí)行該操作，以便進(jìn)入 BTL 模式，僅進(jìn)行負(fù)載診斷
- 在寄存器 0x2A 中設(shè)置適當(dāng)?shù)臏y試頻率，默認(rèn)值為 18.75kHz
- 對于通道 1，將寄存器 0x15 第 3 位設(shè)置為 1。對于通道 3，將寄存器 0x15 第 1 位設(shè)置為 1
- 讀取十六進(jìn)制值的 AC_LDG_Phase1 值。寄存器 0x1B 存儲(chǔ)高字節(jié)（MSB），寄存器 0x1C 存儲(chǔ)低字節(jié)（LSB）
- 設(shè)置 PBTL CH12 與 PBTL CH34 位（寄存器 0x00 第 5 與 4 位）為 1，以便返回 PBTL 模式，進(jìn)行負(fù)載診斷
- 對于通道 1，將寄存器 0x15 第 3 位設(shè)置為 0。對于通道 3，將寄存器 0x15 第 1 位設(shè)置為 0
測試完成后，通道報(bào)告寄存器（0x0F）將指示從交流診斷模式到高阻態(tài)的狀態(tài)變化。當(dāng)器件轉(zhuǎn)換為高阻態(tài)時(shí)，檢測到的基準(zhǔn)相位將存儲(chǔ)在相應(yīng)的 I2C 寄存器中。