第一階段是利用內置的環回模式確定相位測量的基準值。該基準能夠消除器件中的任何相位偏移,僅測量負載的相位。該測量值僅針對通道 1 與通道 3。通道 2 將利用通道 1 的結果進行計算。通道 4 將利用通道 3 的結果進行計算。依次測量通道 1 與通道 3,不能同時測量。
對于環回延遲檢測,請使用以下測試程序:
BTL 模式
- 將 AC_DIAGS_LOOPBACK 位(寄存器 0x16 第 7 位)設置為 1,以便啟用環回模式
- 在寄存器 0x2A 中設置適當的測試頻率,默認值為 18.75kHz
- 對于通道 1,將寄存器 0x15 第 3 位設置為 1。對于通道 3,將寄存器 0x15 第 1 位設置為 1
- 讀取十六進制值的 AC_LDG_Phase1 值。寄存器 0x1B 存儲高字節(MSB),寄存器 0x1C 存儲低字節(LSB)
- 對于通道 1,將寄存器 0x15 第 3 位設置為 0。對于通道 3,將寄存器 0x15 第 1 位設置為 0
PBTL 模式
- 將 AC_DIAGS_LOOPBACK 位(寄存器 0x16 第 7 位)設置為 1,以便啟用 AC 環回模式
- 將 PBTL CH12 與 PBTL CH34 位(寄存器 0x00 第 5 與 4 位)設置為 0。必須在器件處于待機狀態時執行該操作,以便進入 BTL 模式,僅進行負載診斷
- 在寄存器 0x2A 中設置適當的測試頻率,默認值為 18.75kHz
- 對于通道 1,將寄存器 0x15 第 3 位設置為 1。對于通道 3,將寄存器 0x15 第 1 位設置為 1
- 讀取十六進制值的 AC_LDG_Phase1 值。寄存器 0x1B 存儲高字節(MSB),寄存器 0x1C 存儲低字節(LSB)
- 設置 PBTL CH12 與 PBTL CH34 位(寄存器 0x00 第 5 與 4 位)為 1,以便返回 PBTL 模式,進行負載診斷
- 對于通道 1,將寄存器 0x15 第 3 位設置為 0。對于通道 3,將寄存器 0x15 第 1 位設置為 0
測試完成后,通道報告寄存器(0x0F)將指示從交流診斷模式到高阻態的狀態變化。當器件轉換為高阻態時,檢測到的基準相位將存儲在相應的 I2C 寄存器中。