ZHCSFZ7C February 2017 – February 2023 PGA460-Q1
PRODUCTION DATA
- 1 特性
- 2 應(yīng)用
- 3 說明
- 4 修訂歷史記錄
- 5 引腳配置和功能
- 6 規(guī)格
-
7 詳細(xì)說明
- 7.1 概述
- 7.2 功能方框圖
- 7.3
特性說明
- 7.3.1 電源塊
- 7.3.2 突發(fā)生成
- 7.3.3 模擬前端
- 7.3.4 數(shù)字信號處理
- 7.3.5 系統(tǒng)診斷
- 7.3.6 接口說明
- 7.3.7 回波數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)儲
- 7.3.8 低功耗模式
- 7.3.9 傳感器時間和溫度去耦
- 7.3.10 存儲器 CRC 計算
- 7.3.11 溫度傳感器和溫度數(shù)據(jù)路徑
- 7.3.12 TEST 引腳功能
- 7.4 器件功能模式
- 7.5 編程
- 7.6 寄存器映射
- 8 應(yīng)用和實施
- 9 器件和文檔支持
- 10機(jī)械、封裝和可訂購信息
封裝選項
機(jī)械數(shù)據(jù) (封裝 | 引腳)
- PW|16
散熱焊盤機(jī)械數(shù)據(jù) (封裝 | 引腳)
訂購信息
7.3.12 TEST 引腳功能
PGA460-Q1 TEST 引腳有多種用途，包括：
- 允許用戶從 PGA460-Q1 器件中提取內(nèi)部信號。
- 選擇數(shù)字引腳的輸出電壓，使 3.3V MCU 或 5V MCU 無需使用任何外部電壓轉(zhuǎn)換器即可連接到器件。RXD、TXD、SCLK、DECPL 和 TEST 引腳受此選擇的影響。
可以通過內(nèi)部測試多路復(fù)用器選擇預(yù)定義信號來提取 TEST 引腳上的內(nèi)部信號。TEST_MUX 寄存器參數(shù)用于選擇該信號。表 7-5 列出了在 TEST 引腳輸出的可能 PGA460-Q1 內(nèi)部信號。
| TEST_MUX 值 | 信號名稱 | 類型 | 說明 |
|---|---|---|---|
| 0x00 | 高阻（禁用） | 模擬 | TEST 引腳處于高阻抗?fàn)顟B(tài) |
| 0x01 | ASC 輸出 | ADC 緩沖器之后的 SAR ADC 輸入 | |
| 0x02 | 保留 | ||
| 0x03 | 保留 | ||
| 0x04 | 8MHz 時鐘 | 數(shù)字 | 8MHz 時鐘輸出，來自 PGA460-Q1 |
| 0x05 | ADC 采樣時鐘 | 1μs ADC 采樣時鐘 | |
| 0x06 | 保留 | ||
| 0x07 | 保留 |
當(dāng)用作模擬測試多路復(fù)用器輸出時，在共模電壓設(shè)置為 0.9V 的情況下，TEST 引腳輸出電壓可在 0V 至 1.8V 的范圍內(nèi)變化。
TEST 引腳執(zhí)行的數(shù)字電壓電平選擇在器件上電時執(zhí)行。上電時，器件會檢查 TEST 引腳的電平。如果電平為低，則數(shù)字輸出引腳在 3.3V 電壓下工作。如果 TEST 引腳連接至高電平（3.3V 或 5V 都被視為高電平狀態(tài)），則數(shù)字輸出引腳在 5V 電壓下工作。該條件被鎖存在 PGA460-Q1 器件中，以便測試多路復(fù)用器可以進(jìn)一步使用 TEST 引腳，如前所述。如果應(yīng)用要求使用 5V 數(shù)字輸出并且必須從 PGA460-Q1 器件提取測試多路復(fù)用器輸出，則可以在 TEST 引腳上連接一個弱上拉電阻器，如#X2613 所示。
圖 7-40 測試引腳測試多路復(fù)用器輸出應(yīng)用如#X2613 所示，電阻器 (RPU) 連接到永久電源，通過 RPU 電阻器和 800kΩ 內(nèi)部電阻生成接地電流路徑。該配置對系統(tǒng)而言不是問題；不過，在需要使用 PGA460-Q1 低功耗模式來節(jié)能的應(yīng)用中，它可能會導(dǎo)致靜態(tài)電流小幅增加。在這種情況下，TEST 引腳可以連接至外部 MCU 上的 GPIO 引腳，該引腳可以在 TEST 引腳上輸出邏輯低電平或邏輯高電平狀態(tài)，以便選擇器件啟動時的電壓電平，然后禁用 GPIO 輸出以節(jié)能，或?qū)?GPIO 重新配置為輸入，防止 MCU 使用任何 PGA460-Q1 測試輸出信號。僅 CMOS 5V UART 通信需要外部上拉電阻器，3V 通信不需要外部上拉電阻器。