ZHCSO86C December 2022 – August 2025 LM74900-Q1 , LM74910-Q1 , LM74910H-Q1
PRODUCTION DATA
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LV124 標準中規定的 E-10 測試可檢查電子模塊對于因接觸問題或繼電器反彈而導致的電源輸入短時中斷問題是否具有抗擾能力。該測試(案例 2)過程中會對輸入施加微短路,持續時間短至 10μs 至幾 ms。為了達到功能通過狀態 A,電子模塊需要在 E-10 測試(案例 2)期間不間斷運行 100μs。與單柵極驅動控制器相比,LM749x0-Q1 的雙柵極驅動架構(DGATE 和 HGATE)能夠達到功能通過狀態 A,并在輸出端提供最佳保持電容。當輸入微短路持續 100μs 時,LM749x0-Q1 通過將 DGATE 短接至陽極(MOSFET 的源極)在 0.5μs 內快速關斷 MOSFET Q1 以防止輸出放電,而 HGATE 保持導通狀態以使 MOSFET Q2 保持導通狀態,從而在輸入短路條件消失后實現快速恢復。
在 E10 輸入電源中斷測試案例 2 期間 LM749x0-Q1 的性能如圖 10-4 所示。輸入短路消除后,輸入電壓恢復且 VAC 電壓超過正向導通閾值 (VAC_FWD),MOSFET Q1 快速重新導通。請注意,雙柵極驅動拓撲允許 MOSFET Q2 在測試期間保持導通狀態,并有助于更快地恢復輸入功率。在整個持續時間內,輸出電壓保持不受干擾,從而達到功能狀態 A。
圖 9-5 輸入微短路 – LV124 E10 TC 2 100μs