ZHCAFS8 September 2025 UCC57102 , UCC57102-Q1 , UCC57102Z , UCC57102Z-Q1 , UCC57108 , UCC57108-Q1 , UCC57132 , UCC57132-Q1 , UCC57138 , UCC57138-Q1 , UCC57142 , UCC57142-Q1 , UCC57148 , UCC57148-Q1
需確認(rèn)所選柵極驅(qū)動器的功耗是否在規(guī)格范圍內(nèi)。低側(cè)柵極驅(qū)動器中的總功耗 (Ptot) 可分為兩個部分:直流損耗和開關(guān)損耗。直流損耗 (PDC) 取決于柵極驅(qū)動器為內(nèi)部電路提供偏置所需的靜態(tài)電流。開關(guān)損耗 (PSW) 取決于電源開關(guān)的柵極電荷、偏置電壓、開關(guān)頻率和內(nèi)部/外部柵極電阻。
可根據(jù)柵極驅(qū)動器數(shù)據(jù)手冊中的熱規(guī)格參數(shù)及預(yù)估環(huán)境溫度,計算出驅(qū)動器的最大允許功耗 (Pmax)。可以將 Pmax 與計算出的 Ptot 進(jìn)行比較,以確保柵極驅(qū)動器在規(guī)格范圍內(nèi)。方程式 5 和方程式 6 用于估算 UCC57132B 的最大功率耗散。
UCC57132B 的最大 VDD 靜態(tài)電流為 1.3mA,最大 VEE 靜態(tài)電流為 1.1mA。當(dāng) VDD 電源為 +20V、VEE 電源為 -5V 時,其直流損耗為 31.5mW。
開關(guān)損耗可使用方程式 7 和方程式 8 進(jìn)行估算。ROH(eff) 表示輸出導(dǎo)通期間輸出結(jié)構(gòu)的有效上拉電阻 (1Ω);這一特性源于 UCC57132B 輸出級的混合上拉結(jié)構(gòu),其中包含一個與上拉 PMOS 并聯(lián)的上拉 NMOS。該參數(shù)與數(shù)據(jù)手冊中的 ROH 參數(shù)不同,后者僅代表上拉 PMOS(如果需要高估,可以使用 ROH 代替 ROH(eff))。ROL 指下拉 NMOS 的典型電阻,可在數(shù)據(jù)手冊中查詢 (1?)。RGATE(H) 是指導(dǎo)通外部柵極電阻,RGATE(L) 是指關(guān)斷外部柵極電阻。RGATE(I) 是指所選 SiC MOSFET 的固有柵極電阻 (2Ω)。
封裝中耗散的總功率估算值通過方程式 9 和方程式 10 進(jìn)行計算。
對于初始設(shè)計而言,計算得出的 Ptot 遠(yuǎn)小于 UCC57132B 的估算 Pmax,確保器件在規(guī)格范圍內(nèi)。在整個設(shè)計階段,必須完成進(jìn)一步的熱分析,以驗證是否具備足夠的散熱能力。有關(guān)熱分析的更多信息,請閱讀半導(dǎo)體和 IC 封裝熱指標(biāo) 應(yīng)用手冊。