ZHCSW37A April 2024 – May 2025 TPS23881B
PRODUCTION DATA
- 1
- 1 特性
- 2 應(yīng)用
- 3 說明
- 4 器件比較表
- 5 引腳配置和功能
- 6 規(guī)格
- 7 參數(shù)測量信息
-
8 詳細(xì)說明
- 8.1 概述
- 8.2 功能方框圖
- 8.3 特性說明
- 8.4 器件功能模式
- 8.5 I2C 編程
- 8.6
寄存器映射
- 8.6.1 完整寄存器組
- 8.6.2
詳細(xì)的寄存器說明
- 8.6.2.1 中斷寄存器
- 8.6.2.2 中斷屏蔽寄存器
- 8.6.2.3 電源事件寄存器
- 8.6.2.4 檢測事件寄存器
- 8.6.2.5 故障事件寄存器
- 8.6.2.6 啟動(dòng)/ILIM 事件寄存器
- 8.6.2.7 電源和故障事件寄存器
- 8.6.2.8 通道 1 發(fā)現(xiàn)寄存器
- 8.6.2.9 通道 2 發(fā)現(xiàn)寄存器
- 8.6.2.10 通道 3 發(fā)現(xiàn)寄存器
- 8.6.2.11 通道 4 發(fā)現(xiàn)寄存器
- 8.6.2.12 電源狀態(tài)寄存器
- 8.6.2.13 引腳狀態(tài)寄存器
- 8.6.2.14 工作模式寄存器
- 8.6.2.15 斷開使能寄存器
- 8.6.2.16 檢測/分級(jí)使能寄存器
- 8.6.2.17 功率優(yōu)先級(jí)/2 線對(duì) PCUT 禁用寄存器名稱
- 8.6.2.18 時(shí)序配置寄存器
- 8.6.2.19 通用屏蔽寄存器
- 8.6.2.20 檢測/分級(jí)重啟寄存器
- 8.6.2.21 電源使能寄存器
- 8.6.2.22 復(fù)位寄存器
- 8.6.2.23 ID 寄存器
- 8.6.2.24 連接檢查和 Auto Class 狀態(tài)寄存器
- 8.6.2.25 2 線對(duì)管制通道 1 配置寄存器
- 8.6.2.26 2 線對(duì)管制通道 2 配置寄存器
- 8.6.2.27 2 線對(duì)管制通道 3 配置寄存器
- 8.6.2.28 2 線對(duì)管制通道 4 配置寄存器
- 8.6.2.29 電容（傳統(tǒng) PD）檢測
- 8.6.2.30 加電故障寄存器
- 8.6.2.31 端口重映射寄存器
- 8.6.2.32 通道 1 和 2 多位優(yōu)先級(jí)寄存器
- 8.6.2.33 通道 3 和 4 多位優(yōu)先級(jí)寄存器
- 8.6.2.34 4 線對(duì)有線和端口功率分配寄存器
- 8.6.2.35 4 線對(duì)管制通道 1 和 2 配置寄存器
- 8.6.2.36 4 線對(duì)管制通道 3 和 4 配置寄存器
- 8.6.2.37 溫度寄存器
- 8.6.2.38 4 線對(duì)故障配置寄存器
- 8.6.2.39 輸入電壓寄存器
- 8.6.2.40 通道 1 電流寄存器
- 8.6.2.41 通道 2 電流寄存器
- 8.6.2.42 通道 3 電流寄存器
- 8.6.2.43 通道 4 電流寄存器
- 8.6.2.44 通道 1 電壓寄存器
- 8.6.2.45 通道 2 電壓寄存器
- 8.6.2.46 通道 3 電壓寄存器
- 8.6.2.47 通道 4 電壓寄存器
- 8.6.2.48 2x 折返選擇寄存器
- 8.6.2.49 固件版本寄存器
- 8.6.2.50 I2C 看門狗寄存器
- 8.6.2.51 器件 ID 寄存器
- 8.6.2.52 通道 1 檢測電阻寄存器
- 8.6.2.53 通道 2 檢測電阻寄存器
- 8.6.2.54 通道 3 檢測電阻寄存器
- 8.6.2.55 通道 4 檢測電阻寄存器
- 8.6.2.56 通道 1 檢測電容寄存器
- 8.6.2.57 通道 2 檢測電容寄存器
- 8.6.2.58 通道 3 檢測電容寄存器
- 8.6.2.59 通道 4 檢測電容寄存器
- 8.6.2.60 通道 1 分配的分級(jí)寄存器
- 8.6.2.61 通道 2 分配的分級(jí)寄存器
- 8.6.2.62 通道 3 分配的分級(jí)寄存器
- 8.6.2.63 通道 4 分配的分級(jí)寄存器
- 8.6.2.64 AUTO CLASS 控制寄存器
- 8.6.2.65 通道 1 AUTO CLASS 功率寄存器
- 8.6.2.66 通道 2 AUTO CLASS 功率寄存器
- 8.6.2.67 通道 3 AUTO CLASS 功率寄存器
- 8.6.2.68 通道 4 AUTO CLASS 功率寄存器
- 8.6.2.69 備用折返寄存器
- 8.6.2.70 SRAM 控制寄存器
- 9 應(yīng)用和實(shí)施
- 10器件和文檔支持
- 11修訂歷史記錄
- 12機(jī)械、封裝和可訂購信息
封裝選項(xiàng)
機(jī)械數(shù)據(jù) (封裝 | 引腳)
- RTQ|56
散熱焊盤機(jī)械數(shù)據(jù) (封裝 | 引腳)
- RTQ|56
訂購信息
8.6.2.48 2x 折返選擇寄存器
命令 = 40h，帶 1 個(gè)數(shù)據(jù)字節(jié)，讀取/寫入
圖 8-55 2x 折返選擇寄存器格式
| 7 | 6 | 5 | 4 | 3 | 2 | 1 | 0 |
| 2xFB4 | 2xFB3 | 2xFB2 | 2xFB1 | MPOL4 | MPOL3 | MPOL2 | MPOL1 |
| R/W-0 | R/W-0 | R/W-0 | R/W-0 | R/W -0 | R/W -0 | R/W -0 | R/W -0 |
| 說明：R/W = 讀/寫；R = 只讀；-n = 復(fù)位后的值 |
表 8-54 2x 折返選擇寄存器字段說明
| 位 | 字段 | 類型 | 復(fù)位 | 說明 | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 7–4 | 2xFB4 - 2xFB1 | R/W | 0 | 設(shè)置后用于激活通道的 2x 折返模式，從而增加其 ILIM 和 ISHORT 電平的正常設(shè)置，如圖 8-3 所示。請(qǐng)注意，超出 ILIM 閾值時(shí)，故障計(jì)時(shí)器將啟動(dòng)。 | ||||
| 說明： | ||||||||
| 1) | 在開啟時(shí)，浪涌電流曲線不受這些位的影響，如圖 8-2 所示。 | |||||||
| 2) | 當(dāng) 2xFBn 位為無效狀態(tài)時(shí)，用于相關(guān)通道的 tLIM 設(shè)置始終為標(biāo)稱值（大約 60ms）。如果 2xFBn 位為有效狀態(tài)，則可根據(jù)時(shí)序配置寄存器 (0x16) 中的定義對(duì)相關(guān)通道的 tLIM 進(jìn)行編程。 | |||||||
| 3) | 如果為通道分配的分級(jí)為 4 級(jí)或更高類別，則在開啟期間將自動(dòng)設(shè)置 2xFB 位。 對(duì)于單一特征 4 線對(duì)受電 PD，將會(huì)設(shè)置兩個(gè)位 對(duì)于雙特征 4 線對(duì)受電 PD，將會(huì)根據(jù)單獨(dú)分配的 PD 分級(jí)設(shè)置每個(gè)通道 | |||||||
| 3-0 | MPOL4 - MPOL1 | R/W | 0 | 手動(dòng)管制和折返配置位 0 = 內(nèi)部器件固件會(huì)在端口打開期間根據(jù)分配的類別自動(dòng)調(diào)整管制 (PCUT) 和 2xFBn 設(shè)置。 1 = 在端口打開期間，管制 (PCUT) 和 2xFBn 設(shè)置不會(huì)更改。 注意：“管制”(PCUT) 和 2xFBn 設(shè)置會(huì)在端口關(guān)閉時(shí)恢復(fù)為默認(rèn)值，與這些設(shè)置無關(guān)。 注意：如果為 4P 配置的端口設(shè)置任一位，則會(huì)在兩個(gè)通道上禁用自動(dòng)配置。 端口關(guān)閉時(shí)，MPOLn 位將被清除。 | ||||
注：
對(duì)于 4 線對(duì)有線端口，2xFBn 位分別控制每個(gè)通道的運(yùn)行。
有關(guān)其他折返和浪涌配置選項(xiàng)的更多信息，請(qǐng)參閱寄存器 0x55h 說明
圖 8-56 1x 模式 (2xFBn = 0) 折返曲線，IPORT 與 VDRAIN 間的關(guān)系
圖 8-57 2x 模式 (2xFBn = 1) 折返曲線，IPORT 與 VDRAIN 間的關(guān)系