ZHCSW37A April 2024 – May 2025 TPS23881B
PRODUCTION DATA
命令 = 19h，帶 1 個數(shù)據(jù)字節(jié)，只寫
按鈕寄存器。
用于在除關(guān)閉模式之外的任何模式下啟動通道的開關(guān)操作。
| 7 | 6 | 5 | 4 | 3 | 2 | 1 | 0 |
| POFF4 | POFF3 | POFF2 | POFF1 | PWON4 | PWON3 | PWON2 | PWON1 |
| W-0 | W-0 | W-0 | W-0 | W-0 | W-0 | W-0 | W-0 |
| 說明：R/W = 讀取/寫入；R = 只讀；W = 只寫；-n = 復(fù)位后的值 |
| 位 | 字段 | 類型 | 復(fù)位 | 說明 |
|---|---|---|---|---|
| 7–4 | POFF4–POFF1 | W | 0 | 通道關(guān)閉位 |
| 3-0 | PWON4–PWON1 | W | 0 | 通道開啟位 |
在同一寫操作期間向同一通道上的 POFFn 和 PWONn 寫入“1”會關(guān)閉該通道。
tOVLD、tLIM、tSTART 和斷開事件優(yōu)先于 PWON 命令。在 tOVLD、tLIM 或 tSTART 冷卻周期內(nèi)，使用電源使能命令開啟的任何通道都將被忽略，該通道將保持關(guān)閉狀態(tài)。
對于 4 線對有線端口：
這些位控制各個通道的響應(yīng)。因此，對于 4 線對有線端口，建議同時設(shè)置兩個通道的位。
在半自動模式下且兩個通道上均設(shè)置 DETE = CLE = 1 時，允許僅設(shè)置一個 PWON 位來嘗試僅開啟該奇異通道。
對于分級為 5-8 級的 4P 單一特性器件，執(zhí)行奇異 PWON 命令將失敗，還會生成 STRT 故障，并將“功率不足”代碼寫入 0x24。
如果 PD 將自身表示為 4 級或更低類別，那么只會向該配對進(jìn)行供電。
在單一特征器件的主通道已受電后，為輔助通道設(shè)置備用 PWON 位將導(dǎo)致立即開啟該通道而不必完成 DET 或 CLS。
對于僅有一個通道受電的 4 線對雙特征器件，設(shè)置未受電通道的 PWON 位將會根據(jù)發(fā)出新 PWON 命令時另一通道分配的分級和 0x29h 中的功率分配設(shè)置來嘗試開啟未受電通道。
診斷/手動模式下的 PWONn：
如果 PSE 控制器配置為診斷模式，則在該 PWONn 位的位置寫入“1”將立即開啟相關(guān)通道。
半自動模式下的 PWONn：
在半自動模式下，向 PWONn 位寫入“1”將嘗試開啟相關(guān)通道。如果檢測或分級結(jié)果無效，則通道不會開啟，并且在將此按鈕再次置位（通道將恢復(fù)其配置的半自動工作模式）之前不會再嘗試開啟通道。
在半自動模式下，需要在發(fā)出 PWON 命令之前設(shè)置功率分配 (0x29h) 值。發(fā)出 PWON 命令后對功率分配值進(jìn)行的任何更改均可能被忽略。
| CLEn | DETEn | 通道工作模式 | PWONn 命令的結(jié)果 |
|---|---|---|---|
| 0 | 0 | 空閑 | 以完整 DET 和 CLS 周期嘗試奇異開啟 |
| 0 | 1 | 僅循環(huán)檢測測量 | 以完整 DET 和 CLS 周期嘗試奇異開啟 |
| 1 | 0 | 空閑 | 以完整 DET 和 CLS 周期嘗試奇異開啟 |
| 1 | 1 | 循環(huán)檢測和分級測量 | 在下一個（或當(dāng)前）DET 和 CLS 周期之后嘗試奇異開啟 |
在設(shè)置了 DETE 和 CLE 的半自動模式下，只要在分級開始之前接收到 PWONx 命令，在分級完成后，如果分級結(jié)果有效且功率分配設(shè)置（請參閱寄存器 0x29h）足以啟用電源，通道就會立即受電。
自動模式下的 PWONn：
在 DETE 或 CLE 設(shè)置為 0 的自動模式下，PWONx 命令將啟動奇異檢測和分級周期，而在分級完成后，如果分級結(jié)果有效且功率分配設(shè)置（請參閱寄存器 0x29h）足以啟用電源，端口/通道就會立即受電。
在 DETE 和 CLE = 1 的自動模式下，不需要 PWON 命令。在每個檢測和分級周期后，端口/通道將自動嘗試開啟。
在自動模式下，需要在發(fā)出 PWON 命令之前設(shè)置功率分配 (0x29h) 值。發(fā)出 PWON 命令后對功率分配值進(jìn)行的任何更改均可能被忽略。
在自動模式下，4 線對有線端口將忽略奇異 PWONn 命令。
| CLEn | DETEn | 通道工作模式 | PWONn 命令的結(jié)果 |
|---|---|---|---|
| 0 | 0 | 空閑 | 以完整 DET 和 CLS 周期嘗試奇異開啟 |
| 0 | 1 | 僅循環(huán)檢測測量 | 以完整 DET 和 CLS 周期嘗試奇異開啟 |
| 1 | 0 | 空閑 | 以完整 DET 和 CLS 周期嘗試奇異開啟 |
| 1 | 1 | 循環(huán)檢測和分級測量 | NA - 在有效檢測和分級后，通道將自動加電 |
任何模式下的 PWOFFn：
立即禁用通道并清除以下寄存器：
| 寄存器 | 要復(fù)位的位 |
|---|---|
| 0x04 | CLSCn 和 DETCn |
| 0x06 | DISFn 和 PCUTn |
| 0x08 | STRTn 和 ILIMn |
| 0x0A/B | PCUTnn |
| 0x0C-0F | 請求的分級和檢測 |
| 0x10 | PGn 和 PEn |
| 0x14 | CLEn 和 DETEn |
| 0x1C | ACn 和 CCnn |
| 0x1E-21 | 2P 管制設(shè)置為 0xFFh |
| 0x24 | PFn |
| 0x2A-2B | 4P 管制設(shè)置為 0xFFh |
| 0x2D | NLMnn、NCTnn、4PPCTnn 和 DCDTnn |
| 0x30-3F | 通道電壓和電流測量 |
| 0x40 | 2xFBn |
| 0x44 - 47 | 檢測電阻測量 |
| 0x4C-4F | 分配的分級和先前的分級 |
| 0x51-54 | Autoclass 測量 |
在發(fā)出 PWOFFn 命令之后，可能需要 5ms 以上的時間才能更新所有寄存器值。
只會清除與設(shè)置了 PWOFFn 的通道/端口（“n”）相關(guān)的位。與仍然保持工作狀態(tài)的通道/端口相關(guān)的位將不會改變。
這些位分別控制每個通道的響應(yīng)。因此，對于 4 線對有線端口，建議同時設(shè)置兩個通道的位。
如果僅為具有 5 級或更高級類別分配的分級的 4 線對單一特征負(fù)載的一個通道提供 PWOFFn 命令，則會禁用兩個通道。
如果由于 PWOFFn 命令導(dǎo)致 4 線對雙特征 PD 的奇異通道關(guān)閉，則可以通過設(shè)置 0x19h 中的 PWON 位來重新為該通道供電，但前提是檢測和分級仍然有效，并且根據(jù)受電通道分配的分級，0x29 中的功率分配設(shè)置足以滿足要求。