ZHCSU48 December 2023 BQ76972
PRODUCTION DATA
BQ76972 器件集成了通過數(shù)字化內(nèi)部晶體管基極-發(fā)射極電壓差值 (ΔVBE) 來測量其內(nèi)部芯片溫度的功能。該電壓會(huì)在測量循環(huán)中進(jìn)行定期測量,并在處理后通過數(shù)字通信接口提供報(bào)告的溫度值。該內(nèi)部溫度測量可用于電芯或 FET 溫度保護(hù)以及基于配置設(shè)置的邏輯。