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ZHCY211 December 2024 AMC0106M05 , AMC0106M25 , AMC0136 , AMC0311D , AMC0311S , AMC0386 , AMC0386-Q1 , AMC1100 , AMC1106M05 , AMC1200 , AMC1200-Q1 , AMC1202 , AMC1203 , AMC1204 , AMC1211-Q1 , AMC1300 , AMC1300B-Q1 , AMC1301 , AMC1301-Q1 , AMC1302-Q1 , AMC1303M2510 , AMC1304L25 , AMC1304M25 , AMC1305M25 , AMC1305M25-Q1 , AMC1306M05 , AMC1306M25 , AMC1311 , AMC1311-Q1 , AMC131M03 , AMC1336 , AMC1336-Q1 , AMC1350 , AMC1350-Q1 , AMC23C12 , AMC3301 , AMC3330 , AMC3330-Q1

1
引言
隔離式信號鏈簡介
1. 比較隔離式放大器和隔離式調(diào)制器
  1. 摘要
  2. 隔離式放大器簡介
  3. 隔離式調(diào)制器簡介
  4. 隔離式放大器和隔離式調(diào)制器的性能比較
  5. 牽引逆變器中的隔離式調(diào)制器
  6. 隔離式放大器和調(diào)制器建議
  7. 結(jié)語
2. TI 具有超寬爬電距離和間隙的先進(jìn)隔離式放大器
  1. 應(yīng)用簡報
選擇樹
電流檢測
1. 隔離式數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器的分流電阻選型
  1. 17
2. 隔離式電流檢測的設(shè)計注意事項
  1. 19
  2. 結(jié)語
  3. 參考資料
  4. 相關(guān)網(wǎng)站
3. 具有 ±50mV 輸入和單端輸出的隔離式電流檢測電路
  1. 24
4. 具有 ±50mV 輸入和差分輸出的隔離式電流檢測電路
  1. 26
5. 具有 ±250mV 輸入范圍和單端輸出電壓的隔離式電流檢測電路
  1. 設(shè)計目標(biāo)
  2. 設(shè)計說明
  3. 設(shè)計說明
  4. 設(shè)計步驟
  5. 設(shè)計仿真
  6. 直流仿真結(jié)果
  7. 閉環(huán)交流仿真結(jié)果
  8. 瞬態(tài)仿真結(jié)果
  9. 設(shè)計參考資料
  10. 設(shè)計采用的隔離式放大器
  11. 設(shè)計備選隔離式放大器
6. 具有 ±250mV 輸入和差分輸出的隔離式電流測量電路
  1. 設(shè)計目標(biāo)
  2. 設(shè)計說明
  3. 設(shè)計注意事項
  4. 設(shè)計步驟
  5. 設(shè)計仿真
  6. 直流仿真結(jié)果
  7. 閉環(huán)交流仿真結(jié)果
  8. 瞬態(tài)仿真結(jié)果
  9. 設(shè)計參考資料
  10. 設(shè)計采用的運算放大器
  11. 設(shè)計備選運算放大器
7. 隔離式過流保護(hù)電路
  1. 52
8. 將差分輸出（隔離式）放大器連接到單端輸入 ADC
  1. 54
9. 利用 AMC3311 為 AMC23C11 供電以實現(xiàn)隔離式檢測和故障檢測
  1. 應(yīng)用簡報
10. 具有前端增益級的隔離式電流檢測電路
  1. 58
11. 隔離式分流器和閉環(huán)電流檢測的精度比較
  1. 60
電壓感測
1. 利用隔離式電壓檢測充分提高功率轉(zhuǎn)換和電機控制效率
  1. 63
  2. 高壓檢測解決方案
  3. 集成電阻器件
  4. 單端輸出器件
  5. 集成隔離式電壓檢測用例
  6. 結(jié)語
  7. 其他資源
2. 借助集成高壓電阻隔離式放大器和調(diào)制器提高精度和性能
  1. 摘要
  2. 簡介
  3. 高電壓電阻隔離式放大器和調(diào)制器的優(yōu)勢
    1. 節(jié)省空間
    2. 集成高壓電阻的溫度漂移和使用壽命漂移更低
    3. 精度結(jié)果
    4. 完全集成電阻與附加外部電阻示例
    5. 器件選擇樹和交流/直流常見用例
  4. 總結(jié)
  5. 參考資料
3. 適用于電壓檢測應(yīng)用且具有差分輸出、單端固定增益輸出和單端比例式輸出的隔離式放大器
  1. 摘要
  2. 引言
  3. 差分輸出、單端固定增益輸出和單端比例式輸出概述
  4. 應(yīng)用示例
    1. 產(chǎn)品選擇樹
  5. 總結(jié)
  6. 參考資料
4. 具有 ±250mV 輸入和差分輸出的隔離式電壓測量電路
  1. 93
5. 使用 AMC3330 進(jìn)行線間隔離式電壓測量的分接抽頭連接
  1. 95
6. 具有隔離放大器和偽差分輸入 SAR ADC 的 ±12V 電壓檢測電路
  1. 97
7. 具有隔離式放大器和差分輸入 SAR ADC 的 ±12V 電壓檢測電路
  1. 99
8. 隔離式欠壓和過壓檢測電路
  1. 101
9. 隔離式過零檢測電路
  1. 103
10. 具有差分輸出的 ±480V 隔離式電壓檢測電路
  1. 105
EMI 性能
1. 借助隔離式放大器實現(xiàn)出色的輻射發(fā)射 EMI 性能
2. 衰減 AMC3301 系列輻射發(fā)射 EMI 的最佳實踐
  1. 摘要
  2. 引言
  3. 輸入連接對 AMC3301 系列輻射發(fā)射的影響
  4. 衰減 AMC3301 系列的輻射發(fā)射
    1. 鐵氧體磁珠和共模扼流圈
    2. AMC3301 系列的 PCB 原理圖和布局最佳實踐
  5. 使用多個 AMC3301 器件
    1. 器件布置方式
    2. 多個 AMC3301 的 PCB 布局最佳實踐
  6. 結(jié)論
  7. AMC3301 系列表
終端設(shè)備
1. 比較 HEV/EV 中基于采樣電阻和基于霍爾傳感器的隔離式電流檢測解決方案
  1. 128
2. 直流電動汽車充電應(yīng)用中電流檢測的設(shè)計注意事項
  1. 摘要
  2. 引言
    1. 電動汽車直流充電站
    2. 電流檢測技術(shù)選擇和等效模型
      1. 使用基于分流器的解決方案檢測電流
      2. 檢測技術(shù)的等效模型
  3. 交流/直流轉(zhuǎn)換器中的電流檢測
    1. 交流/直流級的基本硬件和控制說明
      1. 交流電流控制環(huán)路
      2. 直流電壓控制環(huán)路
    2. A 點和 B 點 – 交流/直流級交流相電流檢測
      1.        帶寬的影響
        
                穩(wěn)態(tài)分析：基波電流和過零電流
        
                瞬態(tài)分析：階躍功率和電壓驟降響應(yīng)
      2. 延遲的影響
        
        故障分析：電網(wǎng)短路
      3.        增益誤差的影響
        
                增益誤差導(dǎo)致的交流/直流級功率擾動
        
                交流/直流級對增益誤差引起的功率擾動的響應(yīng)
      4. 偏移的影響
    3. C 點和 D 點 – 交流/直流級直流鏈路電流檢測
      1. 帶寬對前饋性能的影響
      2. 延遲對電源開關(guān)保護(hù)的影響
      3. 增益誤差對功率測量的影響
        
        瞬態(tài)分析：D 點的前饋
      4. 偏移的影響
    4. A 點、B 點、C1/2 點和 D1/2 點的優(yōu)缺點匯總以及產(chǎn)品建議
  4. 直流/直流轉(zhuǎn)換器中的電流檢測
    1. 具有相移控制功能的隔離式直流/直流轉(zhuǎn)換器的基本工作原理
    2. E、F 點 - 直流/直流級電流檢測
      1. 帶寬的影響
      2. 增益誤差的影響
      3. 偏移誤差的影響
    3. G 點 - 直流/直流級諧振回路電流檢測
    4. 檢測點 E、F 和 G 匯總以及產(chǎn)品建議
  5. 結(jié)語
  6. 參考資料
3. 在電機驅(qū)動器中使用隔離比較器進(jìn)行故障檢測
  1. 引言
  2. 電機驅(qū)動器簡介
  3. 了解電機驅(qū)動器中的故障事件
  4. 在電機驅(qū)動器中實現(xiàn)可靠的檢測和保護(hù)
  5. 用例 1：雙向同相過流檢測
  6. 用例 2：DC+ 過流檢測
  7. 用例 3：DC– 過流和短路檢測
  8. 用例 4：直流鏈路（DC+ 到 DC–）過壓和欠壓檢測
  9. 用例 5：IGBT 模塊過熱檢測
4. 在電機驅(qū)動器的 UCC23513 光兼容隔離式柵極驅(qū)動器中實現(xiàn)分立式 DESAT
  1. 摘要
  2. 引言
  3. 具有集成 DESAT 的隔離式柵極驅(qū)動器的系統(tǒng)挑戰(zhàn)
  4. 使用 UCC23513 和 AMC23C11 的系統(tǒng)方法
    1. 系統(tǒng)概述和主要規(guī)格
    2. 原理圖設(shè)計
      1. 電路原理圖
      2. 配置 VCE(DESAT) 閾值和 DESAT 偏置電流
      3. DESAT 消隱時間
      4. DESAT 抗尖峰脈沖濾波器
    3. 參考 PCB 布局
  5. 仿真和測試結(jié)果
    1. 仿真電路和結(jié)果
      1. 仿真電路
      2. 仿真結(jié)果
    2. 三相 IGBT 逆變器的測試結(jié)果
      1. 制動 IGBT 測試
      2. 具有相間短路保護(hù)功能的三相逆變器的測試結(jié)果
  6. 總結(jié)
  7. 參考資料
5. 交流電機驅(qū)動器中的隔離式電壓檢測
  1. 引言
  2. 結(jié)論
  3. 參考文獻(xiàn)
6. 在服務(wù)器 PSU 中實現(xiàn)高性能隔離式電流和電壓檢測
  1. 應(yīng)用簡報
其他參考設(shè)計/電路
1. 為隔離式放大器設(shè)計自舉電荷泵電源
  1. 摘要
  2. 引言
  3. 自舉電源設(shè)計
    1. 選擇電荷泵電容器
    2. 在 TINA-TI 中仿真
    3. 使用 AMC1311-Q1 進(jìn)行硬件測試
  4. 總結(jié)
  5. 參考資料
2. 隔離式調(diào)制器與 MCU 之間的數(shù)字接口的時鐘邊沿延遲補償
  1. 摘要
  2. 引言
  3. 數(shù)字接口時序規(guī)格的設(shè)計挑戰(zhàn)
  4. 具有時鐘邊沿延遲補償?shù)脑O(shè)計方法
  5. 測試和驗證
    1. 測試設(shè)備和軟件
    2. 具有軟件可配置相位延遲的時鐘信號補償測試
      1. 測試設(shè)置
      2. 測試測量結(jié)果
    3. 通過 MCU 上的時鐘反相進(jìn)行時鐘信號補償?shù)臏y試
      1. 測試設(shè)置
      2.        測試測量結(jié)果
        
                測試結(jié)果 – GPIO123 時鐘輸入無時鐘反相
        
                測試結(jié)果 – GPIO123 時鐘輸入的時鐘反相
    4. 通過計算工具進(jìn)行數(shù)字接口時序驗證
      1. 不使用補償方法的數(shù)字接口
      2. 常用方法 - 降低時鐘頻率
      3. 具有軟件可配置相位延遲的時鐘邊沿補償
  6. 結(jié)語
  7. 參考資料
3. 利用 AMC3311 為 AMC23C11 供電以實現(xiàn)隔離式檢測和故障檢測
  1. 應(yīng)用簡報

原理圖設(shè)計

圖 121 顯示了使用 15V 單極電源來驅(qū)動 IGBT 的設(shè)計原理圖。通過一些微小的更改，此設(shè)計可以適用于功率 MOSFET 驅(qū)動或雙極電源應(yīng)用的 12V 電源設(shè)計。有關(guān)更多詳細(xì)信息，請參閱參考設(shè)計 TIDA-00448。

電阻器 R9 至 R14 和高壓二極管 D1 用于檢測導(dǎo)通期間 IGBT 的實際 V_CE，并根據(jù)隔離式比較器 AMC23C11 的基準(zhǔn)電壓 VREF 對其進(jìn)行調(diào)整。R10 和 R11 并聯(lián)來分散功率損耗。

與 R14 并聯(lián)的電容器 C14 會設(shè)置消隱時間，以避免 IGBT 導(dǎo)通期間出現(xiàn)誤觸發(fā)。添加了 5.1V 齊納二極管 D2 選項，用于抑制可能因 IGBT 開關(guān)而引起的高壓尖峰。請注意，D2 的內(nèi)部電容將與 C14 并聯(lián)，并影響消隱時間。在我們的測試中，我們沒有組裝此 D2。建議使用具有低內(nèi)部電容的快速開關(guān)二極管 D1，以避免誤觸發(fā) DESAT 并盡可能縮短所需的消隱時間。

低壓側(cè)使用 3.3V 電源來直接連接 C2000^TM 和 Sitara MCU 等常用 MCU 的 I/O 電平。在 LATCH 未激活的情況下，R6 和 C11 為比較器的輸出設(shè)置抗尖峰脈沖延遲（默認(rèn)值為 0.2μs）。