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ZHCY211 December 2024 AMC0106M05 , AMC0106M25 , AMC0136 , AMC0311D , AMC0311S , AMC0386 , AMC0386-Q1 , AMC1100 , AMC1106M05 , AMC1200 , AMC1200-Q1 , AMC1202 , AMC1203 , AMC1204 , AMC1211-Q1 , AMC1300 , AMC1300B-Q1 , AMC1301 , AMC1301-Q1 , AMC1302-Q1 , AMC1303M2510 , AMC1304L25 , AMC1304M25 , AMC1305M25 , AMC1305M25-Q1 , AMC1306M05 , AMC1306M25 , AMC1311 , AMC1311-Q1 , AMC131M03 , AMC1336 , AMC1336-Q1 , AMC1350 , AMC1350-Q1 , AMC23C12 , AMC3301 , AMC3330 , AMC3330-Q1

1
引言
隔離式信號鏈簡介
1. 比較隔離式放大器和隔離式調制器
  1. 摘要
  2. 隔離式放大器簡介
  3. 隔離式調制器簡介
  4. 隔離式放大器和隔離式調制器的性能比較
  5. 牽引逆變器中的隔離式調制器
  6. 隔離式放大器和調制器建議
  7. 結語
2. TI 具有超寬爬電距離和間隙的先進隔離式放大器
  1. 應用簡報
選擇樹
電流檢測
1. 隔離式數據轉換器的分流電阻選型
  1. 17
2. 隔離式電流檢測的設計注意事項
  1. 19
  2. 結語
  3. 參考資料
  4. 相關網站
3. 具有 ±50mV 輸入和單端輸出的隔離式電流檢測電路
  1. 24
4. 具有 ±50mV 輸入和差分輸出的隔離式電流檢測電路
  1. 26
5. 具有 ±250mV 輸入范圍和單端輸出電壓的隔離式電流檢測電路
  1. 設計目標
  2. 設計說明
  3. 設計說明
  4. 設計步驟
  5. 設計仿真
  6. 直流仿真結果
  7. 閉環交流仿真結果
  8. 瞬態仿真結果
  9. 設計參考資料
  10. 設計采用的隔離式放大器
  11. 設計備選隔離式放大器
6. 具有 ±250mV 輸入和差分輸出的隔離式電流測量電路
  1. 設計目標
  2. 設計說明
  3. 設計注意事項
  4. 設計步驟
  5. 設計仿真
  6. 直流仿真結果
  7. 閉環交流仿真結果
  8. 瞬態仿真結果
  9. 設計參考資料
  10. 設計采用的運算放大器
  11. 設計備選運算放大器
7. 隔離式過流保護電路
  1. 52
8. 將差分輸出（隔離式）放大器連接到單端輸入 ADC
  1. 54
9. 利用 AMC3311 為 AMC23C11 供電以實現隔離式檢測和故障檢測
  1. 應用簡報
10. 具有前端增益級的隔離式電流檢測電路
  1. 58
11. 隔離式分流器和閉環電流檢測的精度比較
  1. 60
電壓感測
1. 利用隔離式電壓檢測充分提高功率轉換和電機控制效率
  1. 63
  2. 高壓檢測解決方案
  3. 集成電阻器件
  4. 單端輸出器件
  5. 集成隔離式電壓檢測用例
  6. 結語
  7. 其他資源
2. 借助集成高壓電阻隔離式放大器和調制器提高精度和性能
  1. 摘要
  2. 簡介
  3. 高電壓電阻隔離式放大器和調制器的優勢
    1. 節省空間
    2. 集成高壓電阻的溫度漂移和使用壽命漂移更低
    3. 精度結果
    4. 完全集成電阻與附加外部電阻示例
    5. 器件選擇樹和交流/直流常見用例
  4. 總結
  5. 參考資料
3. 適用于電壓檢測應用且具有差分輸出、單端固定增益輸出和單端比例式輸出的隔離式放大器
  1. 摘要
  2. 引言
  3. 差分輸出、單端固定增益輸出和單端比例式輸出概述
  4. 應用示例
    1. 產品選擇樹
  5. 總結
  6. 參考資料
4. 具有 ±250mV 輸入和差分輸出的隔離式電壓測量電路
  1. 93
5. 使用 AMC3330 進行線間隔離式電壓測量的分接抽頭連接
  1. 95
6. 具有隔離放大器和偽差分輸入 SAR ADC 的 ±12V 電壓檢測電路
  1. 97
7. 具有隔離式放大器和差分輸入 SAR ADC 的 ±12V 電壓檢測電路
  1. 99
8. 隔離式欠壓和過壓檢測電路
  1. 101
9. 隔離式過零檢測電路
  1. 103
10. 具有差分輸出的 ±480V 隔離式電壓檢測電路
  1. 105
EMI 性能
1. 借助隔離式放大器實現出色的輻射發射 EMI 性能
  1. 借助隔離式放大器實現出色的輻射發射 EMI 性能
  2. 引言
  3. 當前一代德州儀器 (TI) 隔離式放大器的輻射發射性能
  4. 前幾代德州儀器 (TI) 隔離式放大器的輻射發射性能
  5. 結論
  6. 參考文獻
2. 衰減 AMC3301 系列輻射發射 EMI 的最佳實踐
  1. 摘要
  2. 引言
  3. 輸入連接對 AMC3301 系列輻射發射的影響
  4. 衰減 AMC3301 系列的輻射發射
    1. 鐵氧體磁珠和共模扼流圈
    2. AMC3301 系列的 PCB 原理圖和布局最佳實踐
  5. 使用多個 AMC3301 器件
    1. 器件布置方式
    2. 多個 AMC3301 的 PCB 布局最佳實踐
  6. 結論
  7. AMC3301 系列表
終端設備
1. 比較 HEV/EV 中基于采樣電阻和基于霍爾傳感器的隔離式電流檢測解決方案
  1. 128
2. 直流電動汽車充電應用中電流檢測的設計注意事項
  1. 摘要
  2. 引言
    1. 電動汽車直流充電站
    2. 電流檢測技術選擇和等效模型
      1. 使用基于分流器的解決方案檢測電流
      2. 檢測技術的等效模型
  3. 交流/直流轉換器中的電流檢測
    1. 交流/直流級的基本硬件和控制說明
      1. 交流電流控制環路
      2. 直流電壓控制環路
    2. A 點和 B 點 – 交流/直流級交流相電流檢測
      1.        帶寬的影響
        
                穩態分析：基波電流和過零電流
        
                瞬態分析：階躍功率和電壓驟降響應
      2. 延遲的影響
        
        故障分析：電網短路
      3.        增益誤差的影響
        
                增益誤差導致的交流/直流級功率擾動
        
                交流/直流級對增益誤差引起的功率擾動的響應
      4. 偏移的影響
    3. C 點和 D 點 – 交流/直流級直流鏈路電流檢測
      1. 帶寬對前饋性能的影響
      2. 延遲對電源開關保護的影響
      3. 增益誤差對功率測量的影響
        
        瞬態分析：D 點的前饋
      4. 偏移的影響
    4. A 點、B 點、C1/2 點和 D1/2 點的優缺點匯總以及產品建議
  4. 直流/直流轉換器中的電流檢測
    1. 具有相移控制功能的隔離式直流/直流轉換器的基本工作原理
    2. E、F 點 - 直流/直流級電流檢測
      1. 帶寬的影響
      2. 增益誤差的影響
      3. 偏移誤差的影響
    3. G 點 - 直流/直流級諧振回路電流檢測
    4. 檢測點 E、F 和 G 匯總以及產品建議
  5. 結語
  6. 參考資料
3. 在電機驅動器中使用隔離比較器進行故障檢測
  1. 引言
  2. 電機驅動器簡介
  3. 了解電機驅動器中的故障事件
  4. 在電機驅動器中實現可靠的檢測和保護
  5. 用例 1：雙向同相過流檢測
  6. 用例 2：DC+ 過流檢測
  7. 用例 3：DC– 過流和短路檢測
  8. 用例 4：直流鏈路（DC+ 到 DC–）過壓和欠壓檢測
  9. 用例 5：IGBT 模塊過熱檢測
4. 在電機驅動器的 UCC23513 光兼容隔離式柵極驅動器中實現分立式 DESAT
  1. 摘要
  2. 引言
  3. 具有集成 DESAT 的隔離式柵極驅動器的系統挑戰
  4. 使用 UCC23513 和 AMC23C11 的系統方法
    1. 系統概述和主要規格
    2. 原理圖設計
      1. 電路原理圖
      2. 配置 VCE(DESAT) 閾值和 DESAT 偏置電流
      3. DESAT 消隱時間
      4. DESAT 抗尖峰脈沖濾波器
    3. 參考 PCB 布局
  5. 仿真和測試結果
    1. 仿真電路和結果
      1. 仿真電路
      2. 仿真結果
    2. 三相 IGBT 逆變器的測試結果
      1. 制動 IGBT 測試
      2. 具有相間短路保護功能的三相逆變器的測試結果
  6. 總結
  7. 參考資料
5. 交流電機驅動器中的隔離式電壓檢測
  1. 引言
  2. 結論
  3. 參考文獻
6. 在服務器 PSU 中實現高性能隔離式電流和電壓檢測
  1. 應用簡報
其他參考設計/電路
1. 為隔離式放大器設計自舉電荷泵電源
  1. 摘要
  2. 引言
  3. 自舉電源設計
    1. 選擇電荷泵電容器
    2. 在 TINA-TI 中仿真
    3. 使用 AMC1311-Q1 進行硬件測試
  4. 總結
  5. 參考資料
2. 隔離式調制器與 MCU 之間的數字接口的時鐘邊沿延遲補償
  1. 摘要
  2. 引言
  3. 數字接口時序規格的設計挑戰
  4. 具有時鐘邊沿延遲補償的設計方法
  5. 測試和驗證
    1. 測試設備和軟件
    2. 具有軟件可配置相位延遲的時鐘信號補償測試
      1. 測試設置
      2. 測試測量結果
    3. 通過 MCU 上的時鐘反相進行時鐘信號補償的測試
      1. 測試設置
      2.        測試測量結果
        
                測試結果 – GPIO123 時鐘輸入無時鐘反相
        
                測試結果 – GPIO123 時鐘輸入的時鐘反相
    4. 通過計算工具進行數字接口時序驗證
      1. 不使用補償方法的數字接口
      2. 常用方法 - 降低時鐘頻率
      3. 具有軟件可配置相位延遲的時鐘邊沿補償
  6. 結語
  7. 參考資料
3. 利用 AMC3311 為 AMC23C11 供電以實現隔離式檢測和故障檢測
  1. 應用簡報

制動 IGBT 測試

圖 120 顯示了低側制動 IGBT 柵極驅動測試的平臺。LAUNCHXL-F28379D 的 C2000? LaunchPad? 用作系統控制器來生成一系列 10kHz PWM 脈沖，占空比為 10%（或在每個 100μs 周期內導通時間為 10μs），用以驅動低側 IGBT。該 LaunchPad 還為 AMC23C11 的 LATCH 輸入生成高電平輸出，并通過 GPIO 監測 nDESAT 信號。

圖 126 低側驅動測試的平臺

要測試 OCP 或 SCP 狀況，請使用一個 600V、10A 分立式 IGBT，以及并聯兩個 1.5?、3W 電阻器來模擬制動電阻器。電阻器插入在 IGBT 集電極和 350V DC+ 電源軌之間。圖 127 顯示了測試結果。

圖 127 低側驅動測試中的短路保護延遲

在此測試中，導通 IGBT 之后 (t = 0s)，集電極電流開始上升，并很快在約 90A (t = 480ns) 時達到飽和。根據待測 IGBT 的數據表，當集電極電流達到 70A 時，V_CE 將增加到為電路設置的 8V 觸發電平。在大約 780ns 的消隱時間后，隔離式比較器 AMC23C11 檢測到 DESAT。然后，通常經過 240ns 的內部延遲后，AMC23C11 的 OUT 會切換至低電平 (t = 1.04μs) 并進行鎖存（當 LATCH 設置為高電平時）。在抗尖峰脈沖濾波器經過大約 340ns 的另一次延遲后，與非門 SN74LVC1G00 的輸出切換至高電平并切斷 USS23513 的輸入電流，使柵極驅動器下拉 VGATE (t = 1.44μs)。DESAT 反應時間（從 IGBT 的電流達到 70A 到 GATE 變為低電平后電流開始下降的時間）僅為大約 1.16μs。