ZHCSY78 March 2025 UCC5350L-Q1
PRODUCTION DATA
請參考 PDF 數(shù)據(jù)表獲取器件具體的封裝圖。
| 參數(shù) | 測試條件 | 規(guī)格 | 單位 | |
|---|---|---|---|---|
| 通用 | ||||
| CLR | 外部間隙(1) | 端子間的最短空間距離 | > 14.7 | mm |
| CPG | 外部爬電距離(1) | 端子間的最短封裝表面距離 | > 15.7 | mm |
| DTI | 絕緣穿透距離 | 最小內(nèi)部間隙 | > 21 | μm |
| CTI | 相對漏電起痕指數(shù) | DIN EN 60112 (VDE 0303-11)；IEC 60112 | > 600 | V |
| 材料組 | 符合 IEC 60664-1 | I | ||
| 過壓類別符合 IEC 60664-1 | 額定市電電壓 ≤ 600VRMS | I-IV | ||
| 過壓類別符合 IEC 60664-1 | 額定市電電壓 ≤ 1000VRMS | I-III | ||
| DIN EN IEC 60747-17 (VDE 0884-17) | ||||
| VIORM | 最大重復(fù)峰值隔離電壓 | 交流電壓（雙極） | 2121 | VPK |
| VIOWM | 最大隔離工作電壓 | 交流電壓（正弦波）；時間依賴型電介質(zhì)擊穿 (TDDB) 測試；請參閱圖 1 | 1500 | VRMS |
| 直流電壓 | 2121 | VDC | ||
| VIOTM | 最大瞬態(tài)隔離電壓 | VTEST = VIOTM，t = 60s（鑒定測試） VTEST = 1.2 × VIOTM，t = 1s（100% 生產(chǎn)測試） |
7000 | VPK |
| VIOSM | 最大浪涌隔離電壓(2) | 測試方法符合 IEC 60065，1.2/50μs 波形， VTEST = 1.6 × VIOSM（鑒定） | 8000 | VPK |
| qpd | 視在電荷(3) | 方法 a：I/O 安全測試子組 2/3 后，Vini = VIOTM，tini = 60s；Vpd(m) = 1.2 × VIORM，tm = 10s | ≤ 5 | pC |
| 方法 a：環(huán)境測試子組 1 后，Vini = VIOTM，tini = 60s；Vpd(m) = 1.6 × VIORM，tm = 10s | ≤ 5 | |||
| 方法 b1：常規(guī)測試（100% 生產(chǎn)測試）和預(yù)調(diào)節(jié)（類型測試），Vini = VIOTM，tini = 1s；Vpd(m) = 1.875 × VIORM = x VPK，tm = 1s | ≤ 5 | |||
| CIO | 勢壘電容，輸入至輸出(4) | VIO = 0.5 × sin (2πft)，f = 1MHz | 約 1.5 | pF |
| RIO | 隔離電阻，輸入至輸出(4) | VIO = 500V，TA = 25°C | ≥ 1012 | Ω |
| VIO = 500V，100°C ≤ TA ≤ 125°C | ≥ 1011 | |||
| VIO = 500V，TS = 150°C | ≥ 109 | |||
| 污染等級 | 2 | |||
| 氣候類別 | 40/125/21 | |||
| UL 1577 | ||||
| VISO | 可承受的隔離電壓 | VTEST = VISO = 5000 VRMS，t = 60s（鑒定測試），VTEST = 1.2 × VISO = 6000 VRMS，t = 1s（100% 生產(chǎn)測試） | 5000 | VRMS |