ZHCSPP4B June 2022 – February 2025 ADC12QJ1600-SP
PRODUCTION DATA
- 1
- 1 特性
- 2 應用
- 3 說明
- 4 引腳配置和功能
- 5 規格
-
6 詳細說明
- 6.1 概述
- 6.2 功能方框圖
- 6.3 特性說明
- 6.4 器件功能模式
- 6.5 編程
- 7 應用和實施
- 8 器件和文檔支持
- 9 修訂歷史記錄
- 10機械、封裝和可訂購信息
6.4.5 校準模式和修整
該器件有兩種校準模式：前臺校準和后臺校準。啟動前臺校準時，ADC 會離線以進行校準，輸出數據變為中間碼（二進制補碼中的 0x000），直到校準完成。后臺校準使 ADC 能夠繼續正常運行，同時通過交換不同的 ADC 內核來代替 ADC 內核，在后臺校準 ADC 內核。前臺和后臺校準模式下都提供了額外的失調電壓校準功能。此外，可以修整許多 ADC 參數以優化用戶系統中的性能。
該器件總共包含六個 ADC 內核。在前臺校準模式下，ADC 0 采樣 INA±、ADC 1 采樣 INB±、ADC 4 采樣 INC± 且 ADC 5 采樣 IND±。在后臺校準模式下，ADC 0 和 ADC 1 會定期交換 ADC 內核 2，ADC 4 和 5 會定期交換 ADC 內核 3，以便可以在不中斷操作的情況下進行校準。圖 6-13 至 圖 6-15 提供了校準系統圖，包括 ADC 內核的標記。執行校準時，每組的線性度，增益和失調電壓根據內部生成的校準信號進行校準。在校準期間，前臺和后臺都可以驅動模擬輸入，除非使用偏移校準（OS_CAL 或 BGOS_CAL）時，直流附近必須沒有信號（或混疊信號），以便正確估算偏移（請參閱偏移校準部分）。
圖 6-13 四通道校準系統方框圖
圖 6-14 雙通道校準系統方框圖
圖 6-15 單通道校準系統方框圖除了校準之外，許多 ADC 參數是用戶可控制的，為了達到最佳性能可進行修整。這些參數包括輸入失調電壓，ADC 增益和輸入端接電阻。默認修整值在出廠時被編程為每個器件的唯一值，這些器件在測試系統工作條件下被確定為最佳值。用戶可以從修整寄存器中讀取出廠編程值，并根據需要進行調整。根據正在被采樣的輸入（INA±、INB±、INC± 或 IND） 和正在被修整的 ADC 內核，對控制修整的寄存器字段進行標記。用戶不會隨著運行條件的變化而更改修整值，但用戶可以根據需要更改值。由于工藝差異，任何定制修整都必須基于每個器件的情況，這意味著所有器件都沒有全局最佳設置。有關可用的修整參數和相關寄存器信息，請參閱 修整 部分。