ZHCSTG5A October 2023 – February 2025 ADC12QJ1600-SEP
PRODUCTION DATA
- 1
- 1 特性
- 2 應(yīng)用
- 3 說明
- 4 引腳配置和功能
- 5 規(guī)格
-
6 詳細說明
- 6.1 概述
- 6.2 功能方框圖
- 6.3 特性說明
- 6.4 器件功能模式
- 6.5 編程
- 7 應(yīng)用和實施
- 8 器件和文檔支持
- 9 修訂歷史記錄
- 10機械、封裝和可訂購信息
封裝選項
請參考 PDF 數(shù)據(jù)表獲取器件具體的封裝圖。
機械數(shù)據(jù) (封裝 | 引腳)
- ALR|144
散熱焊盤機械數(shù)據(jù) (封裝 | 引腳)
訂購信息
6.4.5 校準(zhǔn)模式和修整
該器件有兩種校準(zhǔn)模式：前臺校準(zhǔn)和后臺校準(zhǔn)。啟動前臺校準(zhǔn)時，ADC 會離線以進行校準(zhǔn)，輸出數(shù)據(jù)變?yōu)橹虚g碼（二進制補碼中的 0x000），直到校準(zhǔn)完成。后臺校準(zhǔn)使 ADC 能夠繼續(xù)正常運行，同時通過交換不同的 ADC 內(nèi)核來代替 ADC 內(nèi)核，在后臺校準(zhǔn) ADC 內(nèi)核。前臺和后臺校準(zhǔn)模式下都提供了額外的失調(diào)電壓校準(zhǔn)功能。此外，可以修整許多 ADC 參數(shù)以優(yōu)化用戶系統(tǒng)中的性能。
該器件總共包含六個 ADC 內(nèi)核。在前臺校準(zhǔn)模式下，ADC 0 采樣 INA±、ADC 1 采樣 INB±、ADC 4 采樣 INC± 且 ADC 5 采樣 IND±。在后臺校準(zhǔn)模式下，ADC 0 和 ADC 1 會定期交換 ADC 內(nèi)核 2，ADC 4 和 5 會定期交換 ADC 內(nèi)核 3，以便可以在不中斷操作的情況下進行校準(zhǔn)。圖 6-13 至 圖 6-15 提供了校準(zhǔn)系統(tǒng)圖，包括 ADC 內(nèi)核的標(biāo)記。執(zhí)行校準(zhǔn)時，每組的線性度，增益和失調(diào)電壓根據(jù)內(nèi)部生成的校準(zhǔn)信號進行校準(zhǔn)。在校準(zhǔn)期間，前臺和后臺都可以驅(qū)動模擬輸入，除非使用偏移校準(zhǔn)（OS_CAL 或 BGOS_CAL）時，直流附近必須沒有信號（或混疊信號），以便正確估算偏移（請參閱偏移校準(zhǔn)部分）。
圖 6-13 四通道校準(zhǔn)系統(tǒng)方框圖
圖 6-14 雙通道校準(zhǔn)系統(tǒng)方框圖
圖 6-15 單通道校準(zhǔn)系統(tǒng)方框圖除了校準(zhǔn)之外，許多 ADC 參數(shù)是用戶可控制的，為了達到最佳性能可進行修整。這些參數(shù)包括輸入失調(diào)電壓，ADC 增益和輸入端接電阻。默認修整值在出廠時被編程為每個器件的唯一值，這些器件在測試系統(tǒng)工作條件下被確定為最佳值。用戶可以從修整寄存器中讀取出廠編程值，并根據(jù)需要進行調(diào)整。根據(jù)正在被采樣的輸入（INA±、INB±、INC± 或 IND） 和正在被修整的 ADC 內(nèi)核，對控制修整的寄存器字段進行標(biāo)記。用戶不會隨著運行條件的變化而更改修整值，但用戶可以根據(jù)需要更改值。由于工藝差異，任何定制修整都必須基于每個器件的情況，這意味著所有器件都沒有全局最佳設(shè)置。有關(guān)可用的修整參數(shù)和相關(guān)寄存器信息，請參閱 修整 部分。