2 KeyStone 錯(cuò)誤檢測(cè)和校正 - EDC 和錯(cuò)誤校正碼 - ECC

為避免終端系統(tǒng)發(fā)生故障，很多應(yīng)用對(duì)檢測(cè)處理器的存儲(chǔ)器系統(tǒng)故障有非常嚴(yán)格的要求，否則會(huì)使最終用戶面臨嚴(yán)重情況，或?qū)е聦?duì)終端系統(tǒng)的可用性要求更嚴(yán)苛。這里有很多原因會(huì)導(dǎo)致處理器的存儲(chǔ)器出現(xiàn)故障，其中一些會(huì)導(dǎo)致永久性故障，另一些則會(huì)導(dǎo)致瞬態(tài)故障。

在系統(tǒng)運(yùn)行時(shí)檢測(cè)瞬態(tài)故障對(duì)于關(guān)鍵應(yīng)用非常重要。雖然檢測(cè)永久性故障同樣重要，但其發(fā)生的可能性通常明顯低于瞬態(tài)故障。在很多情況下，可通過在應(yīng)用啟動(dòng)或關(guān)閉時(shí)運(yùn)行適當(dāng)?shù)臏y(cè)試算法來檢測(cè)永久性故障。瞬態(tài)故障主要由軟錯(cuò)誤引起，其中主要源于芯片封裝材料的 α 輻射或來自宇宙射線的中子粒子，它們會(huì)導(dǎo)致存儲(chǔ)器中發(fā)生位翻轉(zhuǎn)或觸發(fā)器狀態(tài)改變。

KeyStone 架構(gòu)提供了多種機(jī)制來檢測(cè)此類故障，并在特定情況下可校正某些故障。