ZHCSP98B February 2022 – March 2023 TAS2780
PRODUCTION DATA
在上電序列期間，監控 AVDD 引腳的電路將使器件保持在復位狀態（包括所有配置寄存器），直到電源有效。在 AVDD 有效且 SDZ 引腳被釋放之前，器件不會退出“硬件關斷”。一旦 SDZ 被釋放，數字內核穩壓器將會上電，從而能夠檢測工作模式。如果 AVDD 低于欠壓閾值，系統將立即強制器件進入復位狀態。
如果電源低于 PVDD 欠壓閾值（由寄存器位 PVDD_UVLO_TH[5:0] 設置），該器件還監控 PVDD 電源并將模擬內核保持在斷電狀態。如果 TAS2780 處于有效運行狀態并發生欠壓故障，模擬模塊將立即斷電以保護器件。這些故障會被鎖存，需要通過硬件或軟件關斷來清除故障。鎖存寄存器將報告欠壓故障。
如果器件檢測到 TDM 時鐘出現如下任何故障，則會過渡到軟件關斷模式：
? 無效的 SBCLK 與 FSYNC 之比
? FSYNC 頻率無效
? SBCLK 或 FSYNC 時鐘停止
檢測到 TDM 時鐘錯誤后，器件會盡快過渡到軟件關斷模式，以限制音頻失真的可能性。一旦修復了所有 TDM 時鐘錯誤，器件音量就會恢復到之前的播放狀態。在 TDM 時鐘錯誤期間，如果將時鐘錯誤中斷屏蔽寄存器位 IM_TDMCE 設置為低電平，則 IRQZ 引腳將置為低電平。時鐘故障在鎖存故障狀態寄存器（位 IR_TDMCE]）中也可用于回讀。
TAS2780 還會監控內核溫度和 D 類負載電流，如果其中任何一個超過安全值，就將進入軟件關斷模式。和 TDM 時鐘錯誤一樣，如果故障中斷屏蔽寄存器位對于過熱和過流設置為低電平，則 IRQZ 引腳將置為低電平。故障狀態也可以在鎖存的故障寄存器中進行監控。
內核過熱和 D 類過流錯誤可以是鎖存的（例如，器件將進入“軟件關斷”，直到應用了硬件或軟件關斷序列），也可以將它們編程為在規定時間后自動重試。此行為可以在 OTE_RETRY、OCE_RETRY 寄存器位中進行配置（分別針對過熱和過流）。即使在鎖存模式下，D 類在出現過熱或過流錯誤后也不會嘗試重試，直到重試時間段（1.5 秒）結束。這可以防止以快速方式對器件施加重復應力，從而導致器件損壞。如果器件已通過硬件或軟件關斷循環，它將僅在重試時間段后開始運行。
默認情況下，所有重試功能都會被禁用。
當退出軟件關斷模式進入有效運行模式時（例如：MODE[2:0] 位從 010b 到 000b），如果檢測到 PVDD 欠壓，則器件將重新進入軟件關斷模式，并且將標記一個中斷 (IL_PUVLO)。若要退出此故障，用戶需要使用 MODE[2:0] 位清除中斷并在軟件關斷模式下對器件進行編程，然后再嘗試進入運行模式。
如果檢測到內部 VBAT1S LDO 欠壓并標記 IL_LDO_UV 中斷，則 PWR_MODE2 中可能會發生類似情況。
狀態寄存器（和 IRQZ 引腳，如果通過狀態屏蔽寄存器啟用）還指示限制器的行為，包括何時激活限制器、何時 PVDD 低于拐點、何時應用最大衰減、限制器何時處于無限保持狀態以及限制器何時靜音。
當器件在 PWR_MODE2 下運行時，VBAT1S 引腳由內部 LDO 供電。保護電路會監控該模塊，并在發生欠壓、過壓或 LDO 過載時產生故障。如果觸發這些故障之一，器件將進入軟件關斷模式。
IRQZ 引腳是一個漏極開路輸出，在未屏蔽的故障條件下置位為低電平，因此必須通過一個電阻器將其上拉至 IOVDD。提供了一個內部上拉電阻，可以通過將 IRQZ_PU 寄存器位設置為高電平來訪問（連接到引腳）。
IRQZ 中斷配置可以使用 IRQZ_PIN_CFG[1:0] 寄存器位進行設置。IRQZ_POL 寄存器位會設置中斷極性。
INT_LTCH_CLR 寄存器位允許清除所有中斷鎖存寄存器位。
僅當器件處于有效運行工作模式時，實時標志寄存器才有效。如果器件因 I2 命令或由于下述任何故障情況而關斷，則有效運行標志將被復位。在這種情況下，鎖存標志不會被復位，用戶可以讀取它們的狀態。
| 中斷 | 實時寄存器位 | 鎖存寄存器位 | 屏蔽寄存器位 | 默認值（1 = 屏蔽） |
|---|---|---|---|---|
| 溫度超過 105°C | IL_TO105 | IR_TO105 | IM_TO105 | 1 |
| 溫度超過 115°C | IL_TO115 | IR_TO115 | IM_TO115 | 1 |
| 溫度超過 125°C | IL_TO125 | IR_TO125 | IM_TO125 | 1 |
| 溫度超過 135°C | IL_TO135 | IR_TO135 | IM_TO135 | 1 |
| 過熱錯誤 | 器件處于關斷狀態 | IR_OT | IM_OT | 0 |
| 過流錯誤 | 器件處于關斷狀態 | IR_OC | IM_OC | 0 |
| TDM 時鐘錯誤 | 器件處于關斷狀態 | IR_TDMCE | IM_TDMCE | 1 |
| TDM 時鐘錯誤：無效的 SBCLK 比率或 FS 率 | IR_TDMCEIR | |||
| TDM 時鐘錯誤：FS 發生動態更改 | IR_TDNCEFC | |||
| TDM 時鐘錯誤：SBCLK FS 之比發生動態更改 | IR_TDMCERC | |||
| BOP 有效 | IL_BOPA | IR_BOPA | IM_BOPA | 0 |
| BOP 級別 0 有效 | IL_BOPL0A | IR_BOPL0A | IM_BOPL0A | 0 |
| BOP 級別 1 有效 | IL_BOPL1A | IR_BOPL1A | IM_BOPL1A | 0 |
| BOP 級別 2 有效 | IL_BOPL2A | IR_BOPL2A | IM_BOPL2A | 0 |
| BOP 級別 3 有效 | IL_BOPL3A | IR_BOPL3A | IM_BOPL3A | 0 |
| BOP 無限保持 | IL_BOPIH | IR_BOPIH | IM_BOPIH | 1 |
| BOP 靜音 | IL_BOPM | IR_BOPM | IM_BOPM | 1 |
| PVDD 低于限制器拐點 | IL_PBIP | IR_PBIP | IM_PBIP | 1 |
| 限制器運行 | IL_LIMA | IR_LIMA | IM_LIMA | 1 |
| 限制器最大衰減 | IL_LIMMA | IR_LIMMA | IM_LIMMA | 1 |
| PVDD UVLO | 器件處于關斷狀態 | IR_PUVLO | IM_PUVLO | 0 |
| VBAT1S UVLO | 器件處于關斷狀態 | IR_VBAT1S_UVLO | IM_VBAT1S_UVLO | 0 |
| OTP CRC 錯誤 | 器件處于關斷狀態 | IR_OTPCRC | ||
| VBAT 增益限制器 | IL_VBATLIM | IR_VBATLIM | IM_VBATLIM | 1 |
| 負載診斷完成 | IR_LDC | IM_LDC | 1 | |
| 負載診斷模式故障 | IR_LDMODE[1:0] | IM_LDMODE[1:0] | 11 | |
| 內部 PLL 時鐘錯誤 | 器件處于關斷狀態 | IR_PLL_CLK | IM_PLL_CLK | 1 |
| 噪聲門運行 | IL_NGA | |||
| PVDD-VBAT1S 低于閾值 | IL_PVBT | IR_PVBT | IM_PVBT | 0 |
| 內部 VBAT1S LDO 過壓 | 器件處于關斷狀態 | IR_LDO_OV | IM_LDO_OV | 1 |
| 內部 VBAT1S LDO 欠壓 | 器件處于關斷狀態 | IR_LDO_UV | IM_LDO_UV | 0 |
| 內部 VBAT1S LDO 過載 | 器件處于關斷狀態 | IR_LDO_OL | IM_LDO_OL | 1 |
| 熱檢測閾值 2 | 器件處于關斷狀態 | IR_TDTH2 | IM_TDTH2 | 0 |
| 熱檢測閾值 1 | IL_TDTH1 | IR_TDTH1 | IM_TDTH1 | 0 |