MC121-Q1 集成了一個測試和編程模式,在該模式下,PWM/DC 和 FG/RD 引腳支持用于器件配置和測試的 I2C 接口。I2C 接口還提供對一次性可編程 (OTP) 內(nèi)存的訪問。對寄存器進行編程可選擇前面幾節(jié)中所述的器件配置。圖 6-31 展示了配置和編程 MC121-Q1 的基本硬件配置。
MC121-Q1 根據(jù)以下過程進入測試模式和 OTP 模式。
- 將 FG/RD 引腳拉至低電平并以 (20-80)% 之間的任何占空比向 PWM/DC 引腳施加 (416-833)kHz 范圍內(nèi)的高頻信號并持續(xù) 15 至 20 個周期,從而進入測試模式。I2C 接口在測試模式下保持活躍。
- 通過 I2C 與 MC121-Q1 通信,對 節(jié) 7 中的寄存器進行讀取和寫入以配置寄存器。
- 為了通過 I2C 通信維持可靠的 OTP 內(nèi)存編程,請在整個通信期間將 MC121-Q1 電源引腳電壓 (VM) 保持在 8V 以上。
- 在連續(xù)的寫入幀中將 OTP 模式進入密鑰 02h、01h、04h 寫入 USR_OTP_PRG_UNLOCK 寄存器以解鎖 OTP 模式。
- 要燒錄 OTP 內(nèi)存,請將 1b 寫入 USR_OTP_CFG 寄存器中的 USR_OTP_PROG_ALL 位。