ZHCAFN7 August 2025 DP83826AE , DP83826AI
以下指南是兼容晶體的主要參考規格。
| 參數 | 測試條件 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 單位 |
|---|---|---|---|---|---|
| 頻率 | 25 | MHz | |||
| 頻率容差 | 工作溫度 | -100 | 100 | ppm | |
| 負載電容 | 15 | 40 | pF | ||
| ESR | 50 | Ω |
| 參數 | 測試條件 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 單位 |
|---|---|---|---|---|---|
| 頻率 | 25 | MHz | |||
| 頻率容差 | 工作溫度 | ±50 | ppm | ||
| 頻率穩定性 | 1 年老化 | ±50 | ppm | ||
| 上升/下降時間 | 20% - 80% | 5 | ns | ||
| 對稱性 | 占空比 | 40% | 60% | ||
| 抖動 RMS | 集成頻帶:12kHz 至 5MHz | 11 | ps |
驗證頻率和信號完整性。為了確保鏈路完整性,參考時鐘必須為:
如果使用晶體作為時鐘源,建議探測 CLK_OUT 信號。探測晶體節點可以改變容性負載,從而改變工作頻率。
CLK_OUT 上的默認信號是 XI 基準的緩沖版本,將提供代表性測量。如果由于搭接原因 CLK_OUT 不可用,或其意外缺失,則必須探測 XI 引腳,但結果需謹慎參考。