ZHCSC15D December 2013 – August 2025 TPS709-Q1
PRODUCTION DATA
請(qǐng)參考 PDF 數(shù)據(jù)表獲取器件具體的封裝圖。
不同封裝類(lèi)型的芯片散熱能力是不同的,在印刷電路板 (PCB) 布局過(guò)程中應(yīng)區(qū)別對(duì)待。器件周?chē)鷽](méi)有其他組件的 PCB 區(qū)域會(huì)將器件的熱量散發(fā)到周?chē)諝庵小?em class="ph i">熱性能信息 中列出了 JEDEC 低 K 電路板和高 K 電路板的性能數(shù)據(jù)。使用較重的覆銅可提高器件的散熱效率。在散熱層上增加的電鍍通風(fēng)孔也能提升散熱效率。
功耗取決于輸入電壓和負(fù)載情況。功率耗散 (PD) 等于輸出電流乘以輸出導(dǎo)通元件(VIN 至 VOUT)上的壓降所得到的乘積,如方程式 1 所示。
圖 7-4 展示了 TPS709-Q1 的最高環(huán)境溫度與功率耗散之間的關(guān)系。該圖假設(shè)器件焊接在 JEDEC 標(biāo)準(zhǔn)高 K 布局上,電路板上沒(méi)有氣流。電路板的實(shí)際熱阻抗差異很大。如果應(yīng)用需要高功率耗散,則透徹了解電路板溫度和熱阻抗有助于確保 TPS709-Q1 不會(huì)在高于 125°C 的結(jié)溫下運(yùn)行。
圖 7-4 最高環(huán)境溫度與功率耗散間的關(guān)系可以使用 熱性能信息 中所示的熱指標(biāo) ΨJT 和 ΨJB 來(lái)估算結(jié)溫。與 RθJA 相比,這些指標(biāo)是芯片和封裝熱傳遞特性的更準(zhǔn)確表示。可以使用方程式 2 來(lái)估算結(jié)溫。

其中:
TT 和 TB 都可以使用實(shí)際測(cè)溫儀(紅外溫度計(jì))在實(shí)際應(yīng)用板上進(jìn)行測(cè)得。
有關(guān)測(cè)量 TT 和 TB 的詳細(xì)信息,請(qǐng)參閱使用新的熱指標(biāo)應(yīng)用手冊(cè)(可從 www.ti.com 下載)。