ZHCSIA8D March 2018 – October 2019 TPS23880
PRODUCTION DATA.
命令 = 04h，帶 1 個數據字節，只讀
命令 = 05h，帶 1 個數據字節，讀取時清除
高電平有效，每個位對應于發生的特定事件。
每個位 xxx1-4 表示一個單獨的通道。
每個位置（04h 或 05h）的讀取會返回相同的寄存器數據，但“讀取時清除”命令會清除寄存器的所有位。當通道 n 關閉時，將清除這些位。
如果該寄存器導致 INT 引腳被激活，則此“讀取時清除”將釋放 INT 引腳。
任何有效位都會對中斷寄存器產生影響，如中斷寄存器 說明中所述。
| 7 | 6 | 5 | 4 | 3 | 2 | 1 | 0 |
| CLSC4 | CLSC3 | CLSC2 | CLSC1 | DETC4 | DETC3 | DETC2 | DETC1 |
| R-0 | R-0 | R-0 | R-0 | R-0 | R-0 | R-0 | R-0 |
| CR-0 | CR-0 | CR-0 | CR-0 | CR-0 | CR-0 | CR-0 | CR-0 |
| 說明：R/W = 讀取/寫入；R = 只讀；CR = 讀取時清除；-n = 復位后的值 |
| 位 | 字段 | 類型 | 復位 | 說明 |
|---|---|---|---|---|
| 7–4 | CLSC4–CLSC1 | R 或 CR | 0 | 如果通用屏蔽寄存器中的 CLCHE 位為低電平，表示至少發生了一個分級周期。相反，如果設置了 CLCHE 位，表示發生了分級變化。
1 = 至少發生了至少一個分級周期（如果 CLCHE = 0）或發生了分級變化 (CLCHE = 1) 0 = 未發生分級周期（如果 CLCHE = 0）或未發生分級變化 (CLCHE = 1) |
| 3–0 | DETC4–DETC1 | R 或 CR | 0 | 如果通用屏蔽寄存器中的 DECHE 位為低電平，表示至少發生了一個檢測周期。相反，如果設置了 DECHE 位，表示發生了檢測變化。
1 = 至少發生了至少一個檢測周期（如果 DECHE = 0）或發生了檢測變化 (DECHE = 1) 0 = 未發生檢測周期（如果 DECHE = 0）或未發生檢測變化 (DECHE = 1) |
NOTE
對于不包含待處理 PWON 命令的 4 線對模式端口，只有在兩個通道的狀態均為就緒后，才會設置這些位。這樣做是為了防止可能發生雙中斷的情況，因為第二個通道在第一個通道之后完成處理。
DETCn 位僅在完成兩個通道的檢測和連接檢查后的 5ms 內同時置位
對于 4 線對單一特征器件，只有已完成分級的配對才會設置 CLSCn 位，即使會為寄存器 0x0C-0F 中的兩個通道提供請求的類也是如此。
對于僅在半自動模式下執行發現的 4 線對雙特征器件，CLSCn 位將在兩個通道上完成分級后的 5ms 內同時設置。在手動模式下，CLSCn 位將在每個通道上完成分級后的 5ms 內單獨設置。
對于包含待處理 PWON 命令或處于自動模式的 4 線對雙特征器件，由于每個通道在雙特征交錯開啟過程中完成其發現部分，因此將獨立設置 DETCn 和 CLSCn 位。