ZHCSUJ5 March 2025 TPS1689
ADVANCE INFORMATION
TPS1689 可以檢測并報告某些表明電源路徑 FET 發(fā)生故障的情況。如果未檢測到或未報告這些情況，則這些情況可能會因無法正確向負載供電或無法提供必要的保護級別而損害系統(tǒng)性能。檢測到 FET 故障后，TPS1689 會嘗試通過拉低柵極來關(guān)斷內(nèi)部 FET 并將 FLT 引腳置為有效。特定的 FET 故障類型也會在 STATUS_MFR_SPECIFIC 狀態(tài)寄存器中報告。
D-S 短路：D-S 短路可能會導致從電源到負載形成恒定的不受控制的電力輸送路徑，這可能是由于電路板組裝缺陷或內(nèi)部 FET 故障造成的。在啟動時，通過在 FET 導通之前檢查 VIN-OUT 是否小于 VDSFLT 來檢測這種情況。如果是，器件會啟動內(nèi)部輸出放電以嘗試對輸出進行放電。如果 VOUT 在特定允許的間隔內(nèi)未放電至低于 VFB，則器件會將 FLT 引腳置為有效并設(shè)置 STATUS_MFR_SPECIFIC 狀態(tài)寄存器中的 FET_FAULT_DS 位。
可以選擇設(shè)置 DEVICE_CONFIG 寄存器中的 DIS_VDSFLT 位，從而以數(shù)字方式禁用 D-S 故障檢測。這允許器件在啟動時進入預充電輸出，而不會觸發(fā) D-S 故障。
G-D 短路：TPS1689 始終通過檢查柵極電壓是否接近 VIN 來檢測此類 FET 故障，即使內(nèi)部控制邏輯試圖將 FET 保持在關(guān)斷狀態(tài)也不例外。如果檢測到這種情況，器件會將 FLT 引腳置為有效并設(shè)置 STATUS_MFR_SPECIFIC 狀態(tài)寄存器中的 FET_FAULT_GD 位。
G-S 短路：TPS1689 在啟動期間通過以下方法來檢測此類 FET 故障：檢查 FET G-S 電壓是否未能在柵極驅(qū)動器導通后的特定超時時間段 (tSU_TMR) 內(nèi)達到必要的過驅(qū)電壓。在穩(wěn)定狀態(tài)下，如果在控制器邏輯向柵極驅(qū)動器發(fā)出關(guān)斷 FET 的信號之前 G-S 電壓變?yōu)榈碗娖剑瑒t會將其鎖存為故障。如果檢測到這種情況，器件會將 FLT 引腳置為有效并設(shè)置 STATUS_MFR_SPECIFIC 狀態(tài)寄存器中的 FET_FAULT_GS 位。