ZHCSGV9I June 2017 – August 2021 TLV6741 , TLV6742
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8.3.6 典型規格與分布
設計人員經常會對放大器的典型規格提出質疑，以便設計出更穩健的電路。工藝技術和制造過程上存在自然差異，因此放大器的每種規格都與理想值存在一定的偏差，例如放大器的輸入失調電壓。這些偏差通常遵循高斯（“鐘形曲線”）或正態 分布，即使Topic Link Label7.6中沒有最小值或最大值規格，電路設計人員也可以利用該信息來確定其系統的限值空間。
圖 8-4 理想的高斯分布圖 8-4 展示了一個分布示例，其中 μ 或 mu 是分布的平均值，而 σ 或 sigma 是系統的標準偏差。對于表現出這種分布的規格，可以預期所有器件中大約三分之二 (68.26%) 器件的值落在平均值的標準差或 1σ 內（μ–σ 至 μ+σ）。
Topic Link Label7.6的典型值列中列出的值以不同的方式表示，具體取決于規格。根據一般的經驗法則，如果規格本身具有非零平均值（例如增益帶寬），那么典型值等于平均值 (μ)。然而，如果規格的平均值本身接近于零（例如輸入失調電壓），那么典型值等于均值加上一個標準偏差 (μ + σ)，這樣才能最為準確地表示典型值。
您可以使用此圖來計算器件中某個規格的近似概率；例如，對于 TLV6742，典型的輸入電壓失調值為 150μV，因此所有 TLV6742 器件中有 68.2% 的器件預計具有 –150μV 至 150μV 的失調電壓。
在最小值或最大值列中具有值的規格由 TI 確保，超過這些限值的器件將從生產材料中剔除。例如，TLV6742 器件在 25°C 條件下的最大失調電壓為 1.0mV，盡管這相當于約 5σ（約為 170 萬個器件中有 1 個器件，可能性微乎其微），但 TI 確保任何失調電壓大于 1.0mV 的器件都將從生產材料中剔除。
對于最小值或最大值列中沒有值的規格，可考慮為應用選擇 1 σ 值的足夠限值空間，并使用該值來設計最差情況下的電路。例如，6σ 值相當于約 5 億個器件中有 1 個器件，這種情況極不可能發生，可以作為一個寬限值空間選項來設計系統。在這種情況下，TLV6742 在溫漂上沒有最大值和最小值，但根據 圖 7-40 和Topic Link Label7.6中 0.2μV/°C 的典型值，可以計算出溫漂的 6σ 值約為 1.0μV/°C。在針對最壞情況的系統條件進行設計時，可以使用該值來估計整個溫度范圍內的最壞失調電壓，而不用知道實際的最小值或最大值。
然而，隨著時間的推移，工藝差異和調整會改變典型的平均值和標準偏差，除非最小值或最大值規格列中給出了值，否則 TI 無法保證器件的性能。此信息應該只能用于估算器件的性能。