ZHCUCD7 October 2024 LMG2640
LMG2640EVM-090 子卡上有多個測試點,專為使用示波器進行模擬和數字測量而設計。有關完整列表,請參閱表 2-1。Fault、PWM、EN 和 CS 測試點等數字測試點可用于調試系統并了解器件的工作原理。但請注意,預計會出現高電平信號振鈴。長布線將這些測試點連接起來以便于測量,但會引入在開關轉換期間表現為高頻噪聲的寄生效應。這些測試點僅用于觀察目的,對于使用該子卡進行功能調試非常有用。