ZHCUAT6A february 2023 – august 2023 UCC14340-Q1 , UCC14341-Q1
如圖 5-28 所示,滿載 EVM 運(yùn)行可能導(dǎo)致 U1 封裝溫度非常高。在滿載運(yùn)行期間探測(cè)或操作 EVM 時(shí),請(qǐng)小心不要觸碰 U1 外殼。
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圖 5-28 功率損耗和外殼溫度與輸入電壓間的關(guān)系,TA=23°C,1.51W |
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圖 5-30 功率損耗和外殼溫度與輸入電壓間的關(guān)系,TA=23°C,0W |
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