ZHCAFH5 July 2025 TMS570LC4357-SEP
在航天應用領域，最需要考慮的是電子元件所處的嚴苛環境。必須根據電離輻射總劑量 (TID) 和單粒子效應來評估耐輻射性。對于數字或混合信號器件，采用 CMOS 工藝的單粒子閂鎖 (SEL) 是器件因重離子而損壞的最常見原因。
TMS570LC4357-SEP 可耐受 30krad 的 TID 和高達 43MeVcm2/mg 的 SEL。
這款 MCU 可以在 -55°C 到 125°C 的極端溫度下運行，并且可耐受近地軌道 (LEO) 衛星在極端溫度之間的極速循環。這款 MCU 中使用的所有材料都符合太空需求，包括禁止使用純錫來避免出現錫晶須，以及使用特殊的模塑化合物來使釋氣遠低于典型要求。
TMS570LC4357-SEP 遵循 TI 航天增強型產品 (SEP) 標準。這包括受控基線等要求：單個制造基地、單個封測基地和單個材料組；延長產品生命周期、延長產品變更通知周期、提供產品可追溯性以支持長期產品安全。