ZHCAEE1A August 2024 – October 2024 DP83822I , DP83826E , DP83826I , DP83867E , DP83867IR , DP83869HM
EMC 抗擾度測試也稱為電磁干擾 (EMI)，這是一個(gè)測試標(biāo)準(zhǔn)，用于定義器件對由外部源引起的電路干擾的耐受能力。由于周圍的干擾，EMI 可能會導(dǎo)致數(shù)據(jù)包中斷、性能下降，甚至導(dǎo)致系統(tǒng)中的鏈路丟失。為了確認(rèn)電子器件在實(shí)時(shí)應(yīng)用中能夠有效抵御外部噪聲源，在器件生產(chǎn)之前通常需要滿足 EMI 測試要求。
EMI 可能由人為因素和自然來源引起，包括蜂窩網(wǎng)絡(luò)、照明設(shè)備、無線電環(huán)境等。一個(gè)常見的人為干擾例子是 ESD 噪聲，這種噪聲由人與器件接觸而產(chǎn)生，可能會對電子器件造成干擾。自然來源的一個(gè)例子是手機(jī)；電話通話可能會對飛機(jī)上的敏感設(shè)備造成干擾。在工業(yè)應(yīng)用中，大多數(shù)電子器件直接暴露在環(huán)境中。因此，在非封閉架構(gòu)中，需要更高標(biāo)準(zhǔn)的 EMI 測試。
EMI 測試標(biāo)準(zhǔn)主要由 IEC61000 4-X 定義。IEC61000-4-X 用于測試系統(tǒng)級抗擾度。許多系統(tǒng)設(shè)計(jì)需要按照 IEC 61000-4-X 規(guī)范中列出的一項(xiàng)或多項(xiàng)測試要求進(jìn)行。以下各節(jié)介紹了以太網(wǎng)應(yīng)用的五種常見測試：