ZHCADW6 June 2023 TMS570LC4357-SEP
TMS570LC4357-SEP 是一款基于 Arm Cortex-R 的高性能微控制器,具有片上診斷特性,具體包括:兩個 CPU 采用鎖步運行;針對 CPU、N2HET 協處理器以及片上 SRAM 的內置自檢 (BIST) 邏輯;L1 高速緩存、L2 閃存和 SRAM 存儲器具有 ECC 保護。該器件還為外設存儲器提供了 ECC 或奇偶校驗保護,外設 I/O 上具有環回功能。
該器件集成了兩個 ARM Cortex-R5F 浮點 CPU,該 CPU 采用鎖步運行,并提供了高效的 1.66DMIPS/MHz 速率,運行頻率高達 300MHz,從而提供高達 498 DMIPS 的計算能力。該器件支持大端字節序 [BE32] 格式。
TMS570LC4357-SEP 器件具有集成的安全特性和各種通信和控制外設,非常適合用于具有安全關鍵要求的高性能實時控制應用。
https://www.ti.com/product/TMS570LC4357
| 說明 | 器件信息 |
|---|---|
| TI 器件型號 | TMS570LC4357-SEP |
| 器件功能 | 基于 Arm Cortex-R 的微控制器 |
| 封裝 | 337 GWT (nFBGA) |
| 技術 | 12F021.M7C |
| 曝光設施 | 德克薩斯 A&M 大學加速器研究所輻射效應設施 |
| 每次運行的重離子通量 | 1 x 106 - 1 x 107 個離子/cm2 |
| 輻照溫度 | 125°C(用于 SEL 測試) |