国模叶桐尿喷337p人体,无码AV一区二区三区无码,搡BBB搡BBBB搡BBBB

ZHCADD1 November 2023 LM63625-Q1 , TPS37-Q1 , TPS3703-Q1 , TPS3850-Q1

3.4 芯片級(jí) LM63625-Q1 和 TPS37A-Q1 FMEDA 分析

以下各節(jié)中的計(jì)算基于 IEC TR 62380。FMEDA 表分別列出了芯片和封裝故障。

表 3-2 展示了 LM63625-Q1 和 TPS37A-Q1 在芯片級(jí)的單點(diǎn)故障指標(biāo) (SPFM) 和潛在故障指標(biāo) (LFM) 計(jì)算方式，以證明設(shè)計(jì)滿足 ASIL B 標(biāo)準(zhǔn)：SPFM ≥ 90% 且 LFM ≥ 60%，不考慮該電路所需的任何無(wú)源器件。

表 3-2 芯片級(jí) LM63625-Q1 和 TPS37A-Q1 FMEDA 分析

					單點(diǎn)故障				潛在故障
元件	失效率	要在計(jì)算中考慮的安全相關(guān)元件？	失效模式	失效模式分布	在缺乏安全機(jī)制的情況下有可能有悖安全目標(biāo)的失效模式	防止失效模式有悖安全目標(biāo)的安全機(jī)制	與有悖安全目標(biāo)相關(guān)的失效模式覆蓋	殘余故障或單點(diǎn)故障失效率	與另一個(gè)元件的獨(dú)立失效相結(jié)合可能導(dǎo)致有悖安全目標(biāo)的失效模式	檢測(cè)方法？防止失效模式具有隱蔽性的安全機(jī)制？	與潛在失效相關(guān)的失效模式覆蓋	潛在多點(diǎn)故障失效率
	FIT	SR/NSR		%	V/NV	SM/NSM	%	FIT	V/NV	SM/NSM	%	FIT
LM63625-Q1	7.00	SR	SW 無(wú)輸出	35%	NV			0.0000	NV			0.00
	7.00	SR	SW 輸出不在電壓或時(shí)序規(guī)格范圍內(nèi)	45%	V	SM	99%	0.0315	V	SM	100%	0.00
	7.00	SR	SW 驅(qū)動(dòng)器 FET 卡在開(kāi)啟位置	10%	V	SM	99%	0.0070	V	SM	100%	0.00
	7.00	SR	RESET 誤動(dòng)作或未動(dòng)作	5%	NV			0.0000	NV			0.00
	7.00	SR	任意兩個(gè)引腳短路	5%	V	SM	99%	0.0035	V	SM	100%	0.00
TPS37A-Q1	2.00	SR	RESET1/ 未動(dòng)作	8%	NV			0.0000	V	NSM	0%	0.16
	2.00	SR	RESET1/ 誤動(dòng)作	8%	NV			0.0000	NV			0.00
	2.00	SR	RESET1/ 動(dòng)作超出規(guī)格（電壓或時(shí)間）	31%	NV			0.0000	V	NSM	0%	0.62
	2.00	SR	RESET1/ 延遲超出規(guī)格	3%	NV			0.0000	NV			0.00
	2.00	SR	RESET2/ 未動(dòng)作	8%	NV			0.0000	V	NSM	0%	0.16
	2.00	SR	RESET2/ 誤動(dòng)作	8%	NV			0.0000	NV			0.00
	2.00	SR	RESET2/ 動(dòng)作超出規(guī)格（電壓或時(shí)間）	31%	NV			0.0000	V	NSM	0%	0.62
	2.00	SR	RESET2/ 延遲超出規(guī)格	3%	NV			0.0000	NV			0.00
	9.0000							0.0420				1.5600

總故障率（芯片）：9 時(shí)基故障	$S i n g l e P o i n t F a u l t M e t r i c = 1 - \frac{\sum (λ_{S P F} + λ_{R F})}{\sum (λ_{S R})}$ $L a t e n t F a u l t M e t r i c = 1 - \frac{\sum (λ_{M P F 。 L a t e n t})}{\sum (λ_{S R}) - \sum (λ_{S P F} + λ_{R F})}$
總殘余失效和單點(diǎn)失效率：0.042FIT
總潛在故障：1.56FIT
SPFM = 1 – (0.042 / 9) = 99.5%
LFM = 1 – (1.56 / (9 – 0.042)) = 82.6%