此外，德州儀器 (TI) PCIe 轉接驅動器的眼圖掃描功能還允許通過編程選擇四種不同的 DAC 粒度或 DAC 范圍。這些范圍包括 ±100mV、±200mV、±300mV 和±400mV，允許用戶選擇 DAC 對命中計數(shù)進行采樣所需的電壓精度。利用該功能，用戶可以更密集地觀察轉接驅動器發(fā)送器的垂直眼圖，這可以幫助確定 PCIe 通道性能的變化或不規(guī)則性。請注意，對于任何選定的 DAC 范圍，仍會掃描 64 個 DAC 階躍。這使得 DAC 范圍設置可以用作轉接驅動器發(fā)送器上垂直眼圖質量的縮放 功能；縮小 DAC 范圍設置可以更準確地深入了解垂直眼圖質量。

可以在圖 3-7 中直觀地查看使用眼圖掃描時的可用范圍，其中選擇了單個 EQ 增強設置并捕獲了后續(xù)的眼圖掃描圖。這些直觀圖示都是使用德州儀器 (TI) SigCon Architect GUI 和相關的 PCIe Gen5.0 轉接驅動器（包括 DS320PR1601 和 DS320PR410）器件配置文件創(chuàng)建的。節(jié) 5中詳細討論了 SigCon Architect GUI 中的眼圖掃描。