由于不同的數(shù)據(jù)模式和傳輸線路而產(chǎn)生的符號間串擾 (ISI) 可能會導(dǎo)致垂直和水平眼圖張開度發(fā)生變化。因此，在使用眼圖掃描監(jiān)測 PCIe 鏈路質(zhì)量和穩(wěn)定性時，必須考慮標準化技術(shù)。眼圖掃描的工作原理是使用 64 級可編程 DAC 來對 PCIe 轉(zhuǎn)接驅(qū)動器發(fā)送器處的信號命中 數(shù)進行計數(shù)。該 DAC 的水平電平會在可編程電壓范圍內(nèi)針對 DAC 的 64 個階躍分別進行掃描，從而將輸入信號限制為轉(zhuǎn)接驅(qū)動器內(nèi)部的眼圖掃描計數(shù)器。圖 3-1 直觀地呈現(xiàn)了這種情形。

在每個 DAC 電平，根據(jù)信號與 DAC 電壓電平的交點計算信號命中 數(shù)，如圖 3-2 中的水平線所示。對于每個選定的 DAC 電平，命中計數(shù)會累積在易失性轉(zhuǎn)接驅(qū)動器寄存器中，然后在可編程 DAC 電壓范圍內(nèi)掃描 DAC 電平時存儲在外部存儲器中。圖 3-2 中進一步詳細展示了眼圖掃描方法。

為了充分理解眼圖掃描的概念，必須引入累積分布函數(shù) (CDF) 的統(tǒng)計概念。實值隨機變量 X 的 CDF 由以下函數(shù)給出：

其中右側(cè)表示隨機變量 X 的值小于或等于 x 的概率。在這種情況下，隨機變量 X 呈正態(tài)分布，其中均值為 μ 且標準偏差為 σ，即

我們可以假設(shè)高速波形的命中 事件是正態(tài)分布的，因此在接近轉(zhuǎn)接驅(qū)動器處的垂直眼圖張開度時，可以使用正態(tài)分布隨機變量 X 的 CDF。

利用上述定義和 CDF，可以就命中計數(shù)累積得出以下結(jié)論：

• 隨機位模式會根據(jù)傳輸介質(zhì)損耗特性引起隨機的垂直眼圖張開度，因此在累積命中計數(shù)時會提取波形的多個樣本。
• 在 DAC 電壓電平下累積零命中計數(shù)意味著電壓電平超出垂直眼圖張開度的頂部或底部。
• 在 DAC 電壓電平下累積恒定的高命中計數(shù)意味著電壓電平處于垂直眼圖張開范圍內(nèi)。

圖 3-3 展示了這些結(jié)論的一個示例。波形是使用示波器捕獲的，眼圖的頂部和底部用零命中計數(shù)值來界定，而垂直眼圖內(nèi)部的區(qū)域以近乎恒定的命中計數(shù)值形式累積。