1 采集數據

若要采集創建多項式所需的數據，請在測試板上安裝所需器件。測試板可以是 EVM 或任何 UUT（待測器件）板。需要使用數據記錄法采集每個優選的特定階躍處的 ADC 電壓。以 –40°C 至 125°C 的溫度范圍為例，將 UUT 置于能從 –40°C 快速升溫至 125°C 的溫度室中。在變化過程中，溫度始終沿選定方向慢速變化。必須使用斜率對溫度變化過程進行編程。溫度斜率必須為 2-3min/℃，或全程耗時約 330 分鐘。在溫度室中，必須留出足夠的時間以使整個電路板在給定溫度下達到飽和。小型電路板能夠迅速飽和，且更快速地達到某一溫度，因此可快速完成測試。如果采集數據時的階躍為 1°C，則必須每隔幾秒就采集一次溫度，這樣才能使基準溫度與該溫度下的 UUT ADC 電壓對齊。這種情況下通常需要使用高端的溫度室控制器。

簡單的方法是將溫度室設置為所需溫度，并留出時間讓 UUT 達到設置溫度或使 UUT 達到飽和，然后記錄該溫度下的 ADC 電壓。為下一數據點設置溫度并重復該過程，直到完成整個數據點范圍的采集。NTC 的標準階躍為 1℃，共 165 階。但是，在整個溫度范圍內，TI TMP6 器件都具有高線性度，因此，5°C 的階躍非常適合這些器件。以 5°C 為階躍，從 –40°C、–35°C、–30°C，一直到 115°C、120°C 和 125°C 采集 33 個數據點。在 Microsoft Excel 數據表中按順序對齊電壓與溫度，如 圖 1-1 所示。左側為電壓，右側為溫度。在該過程后期，這種設置方式的重要性更加凸顯。

圖 1-1 Microsoft? Excel? 中采集的數據