ZHCAAA7A June 2020 – April 2024 TPS3851-Q1 , TPS7A16A-Q1
在 BFR 估算中必須考慮到由輻射事件（內部或外部）導致的軟錯誤，這些軟錯誤會導致隨機硬件故障。但是，由電磁干擾或串擾引起的軟錯誤不應包括在 BFR 計算中，因為它們被歸類為系統故障，可通過遵循良好的設計規范來管理。可通過以下屬性來調制瞬態故障：
架構易受損因子 (AVF) 反映的是設計結構中軟錯誤引起的故障概率，將會導致功能的最終輸出中出現可見錯誤。根據 ISO 26262，不應基于 AVF 或諸如錯誤檢測和糾正 (EDAC) 電路等安全機制來降低軟錯誤的 BFR。因此，最好分別為半導體元件中的隨機存取存儲器和邏輯塊計算軟錯誤的 BFR。