ZHCSF55F June 2016 – November 2024 UCC21520
PRODUCTION DATA
請參考 PDF 數(shù)據(jù)表獲取器件具體的封裝圖。
對于采用半橋的電源轉(zhuǎn)換器拓?fù)洌敳亢偷撞烤w管之間的死區(qū)時(shí)間設(shè)置有助于防止在動(dòng)態(tài)開關(guān)期間發(fā)生擊穿。
電氣表中的 UCC21520 死區(qū)時(shí)間規(guī)格定義為從一個(gè)通道下降沿的 90% 到另一個(gè)通道上升沿的 10% 的時(shí)間間隔(請參閱圖 7-4)。此定義可確保死區(qū)時(shí)間設(shè)置與負(fù)載條件無關(guān),并通過制造測試保證線性度。但是,該死區(qū)時(shí)間設(shè)置可能不會(huì)反映功率轉(zhuǎn)換器系統(tǒng)中的死區(qū)時(shí)間,因?yàn)樗绤^(qū)時(shí)間設(shè)置取決于外部柵極驅(qū)動(dòng)接通/關(guān)斷電阻器、直流鏈路開關(guān)電壓/電流以及負(fù)載晶體管的輸入電容。
以下是有關(guān)如何為 UCC21520 選擇合適死區(qū)時(shí)間的建議:

其中
在本示例中,DTSetting 設(shè)為 250ns。
應(yīng)注意,UCC21520 死區(qū)時(shí)間設(shè)置由 DT 引腳配置決定(請參閱 節(jié) 8.4.2),它無法根據(jù)系統(tǒng)條件自動(dòng)微調(diào)死區(qū)時(shí)間。建議在 DT 引腳附近將一個(gè) ≤1nF 的陶瓷電容器與 RDT 并聯(lián),以實(shí)現(xiàn)更好的抗噪性能。