ZHCSFI9B August 2016 – September 2023 TPD1E10B09-Q1
PRODUCTION DATA
- 1
- 1 特性
- 2 應用
- 3 說明
- 4 Revision History
- 5 Pin Configuration and Functions
- 6 Specifications
-
7 Detailed Description
- 7.1 Overview
- 7.2 Functional Block Diagram
- 7.3
Feature Description
- 7.3.1 AEC-Q101 Qualified
- 7.3.2 IEC 61000-4-2 ESD Protection
- 7.3.3 ISO 10605 ESD Protection
- 7.3.4 IEC 61000-4-5 Surge Protection
- 7.3.5 IO Capacitance
- 7.3.6 Dynamic Resistance
- 7.3.7 DC Breakdown Voltage
- 7.3.8 Ultra Low Leakage Current
- 7.3.9 Clamping Voltage
- 7.3.10 Industrial Temperature Range
- 7.3.11 Space-Saving Footprint
- 7.4 Device Functional Modes
- 8 Application and Implementation
- 9 Device and Documentation Support
- 10Mechanical, Packaging, and Orderable Information
9.5 靜電放電警告
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靜電放電 (ESD) 會損壞這個集成電路。德州儀器 (TI) 建議通過適當的預防措施處理所有集成電路。如果不遵守正確的處理和安裝程序，可能會損壞集成電路。 |
| ESD 的損壞小至導致微小的性能降級，大至整個器件故障。精密的集成電路可能更容易受到損壞，這是因為非常細微的參數更改都可能會導致器件與其發(fā)布的規(guī)格不相符。 |