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ZHCST40B September 2023 – May 2025 LMG3626

PRODUCTION DATA

封裝選項

請參考 PDF 數(shù)據表獲取器件具體的封裝圖。

機械數(shù)據 (封裝 | 引腳)

REQ|38

散熱焊盤機械數(shù)據 (封裝 | 引腳)

訂購信息

zhcst40b_oa

5.5 電氣特性

1) 符號定義：I_D = D 到 S 電流；I_S = S 到 D 電流；I_CS(src) = 從 CS 輸出的電流；2) 除非另有說明，否則電壓、電阻和電容均以 AGND 為基準；–40°C ≤ T_J ≤ 125°C；V_DS = 520V；10V ≤ V_AUX ≤ 26V；V_EN = 5V；V_IN = 0V；R_RDRV = 0?；R_CS = 100?

參數(shù)		測試條件	最小值	典型值	最大值	單位
GaN 功率 FET
R_DS(on)	漏源（D 到 S）導通電阻	V_IN = 5V，I_D = 1.9A，T_J = 25°C		220	308	mΩ
R_DS(on)	漏源（D 到 S）導通電阻	V_IN = 5V，I_D = 1.9A，T_J = 125°C		390		mΩ
I_DSS	漏極（D 到 S）漏電流	V_DS = 650V，T_J = 25°C		1.3		μA
I_DSS	漏極（D 到 S）漏電流	V_DS = 650V，T_J = 125°C		7		μA
Q_OSS	輸出（D 到 S）電荷	V_DS = 400V		14		nC
C_OSS	輸出（D 到 S）電容			22.1		pF
E_OSS	輸出（D 到 S）電容儲存能量			2		μJ
C_OSS,er	與能量相關的有效輸出（D 到 S）電容			24.5		pF
C_OSS,tr	與時間相關的有效輸出（D 到 S）電容	V_DS = 0V 到 400V		34.4		pF
Q_RR	反向恢復電荷			0		nC
過流保護
I_T(OC)	過流故障 - 閾值電流		3.2	3.6	4	A
CS
	電流檢測增益 (I_CS(src)/ I_D)	V_IN = 5V，0V ≤ V_CS ≤ 2V，0A ≤ I_D < I_T(OC)		1.633		mA/A
	電流檢測輸入失調電流	V_IN = 5V，0V ≤ V_CS ≤ 2V，0A ≤ I_D < I_T(OC)	-30		30	mA
	發(fā)生過流故障后，在 IN 保持高電平時初始保持輸出	V_IN = 5V，0V ≤ V_CS ≤ 2V			7	mA
I_{CS(src)(OC)(final)}	發(fā)生過流故障后，在 IN 保持高電平時的最終保持輸出	V_IN = 5V，0V ≤ V_CS ≤ 2V	10	12	15.5	mA
	輸出鉗位電壓	V_IN = 5V，I_D = 3.1A，CS 從外部源獲得 5mA 灌電流		2.55		V
EN、IN
V_IT+	正向輸入閾值電壓		1.7		2.45	V
V_IT–	負向輸入閾值電壓		0.7		1.3	V
	輸入閾值電壓遲滯			1		V
	下拉輸入電阻	0V ≤ V_PIN ≤ 3V	200	400	600	kΩ
	下拉輸入電流	10V ≤ V_PIN ≤ 26V；V_AUX = 26V		10		μA
過熱保護
	溫度故障 – 正向閾值溫度		145	165		°C
	溫度故障 – 負向閾值溫度			145		°C
	溫度故障 – 閾值溫度遲滯			20		°C
FLT
	低電平輸出電壓	置為有效時 FLT 灌電流為 1mA			200	mV
	關斷狀態(tài)灌電流	取消置位時 V_FLT = V_AUX			1	μA
AUX
V_AUX,T+(UVLO)	UVLO – 正向閾值電壓		8.9	9.3	9.7	V
	UVLO – 負向閾值電壓		8.6	9.0	9.4	V
	UVLO – 閾值電壓遲滯			250		mV
	待機靜態(tài)電流	V_EN = 0V		50	80	μA
	靜態(tài)電流			240	360	μA
	工作電流	V_IN = 0V 或 5V，V_DS = 0V，I_D = 0A，f_IN = 500kHz		1.5		mA