ZHCSZ26 October 2025 LM251772-Q1
PRODUCTION DATA
為確保 NVM 數據完整性,器件采用 CRC 算法為存儲在器件 NVM 中的數據生成校驗和。
生產編程過程會自動生成校驗和并將其存儲到單獨的 NVM 寄存器中。
在 NVM 啟動階段之后,CRC 算法會將加載的寄存器的校驗和與生產測試期間生成并存儲在 NVM 寄存器中的校驗和進行比較。如果這兩個值不相等,則不允許器件退出 CONV_OFF 狀態。