ZHCSKM7I December 2019 – August 2025 DP83826E , DP83826I
PRODUCTION DATA
DP83826 中提供多個環回選項,可用于測試和驗證 PHY 中的各種功能塊。啟用環回模式后,可以對數字和模擬數據路徑進行電路內測試。DP83826 可配置為任何一種近端環回模式,也可配置為遠端(反向)環回模式。MII 環回利用基本模式控制寄存器(BMCR,地址:0x0000)進行配置。所有其他環回模式均通過 BIST 控制寄存器(BISCR,地址 0x0016)啟用。除非另有說明,否則所有速度(10/100Mbps 與所有 MAC 接口)均支持環回模式。
圖 8-8 環回測試模式