ZHCSKM7I December 2019 – August 2025 DP83826E , DP83826I
PRODUCTION DATA
DP83826 包含內部 PRBS 內置自檢 (BIST) 電路，可適應電路內測試和診斷。BIST 電路可用于測試發送和接收數據路徑的完整性。BIST 可以通過兩個內部環回（數字或模擬）執行，也可以通過利用電纜固定裝置的外部環回進行。BIST 采用真實數據包和數據包間間隙 (IPG) 格式來模擬線路上的假隨機數據傳輸場景。BIST 可實現對數據包長度和 IPG 的完全控制。
BIST 數據包長度由 BIST 控制和狀態寄存器 2（BICSR2，地址 0x001C）中的位 [10:0] 進行控制。BIST IPG 長度由 BIST 控制和狀態寄存器 1（BICSR1，地址 0x001B）中的位 [7:0] 進行控制。
BIST 采用獨立的發送和接收路徑，且發送時鐘能夠生成假隨機序列的連續流。該器件為 BIST 生成一個 15 位假隨機序列。接收到的數據將與生成的假隨機數據進行比較以確定通過/失敗狀態。PRBS 校驗器接收到的錯誤字節數存儲在 BICSR1 的位 [15:8] 中?？梢詮?BIST 控制寄存器（BISCR，地址 0x0016）讀取 PRBS 鎖定狀態和同步。
使用 BISCR 中的位 [14] 可以將 PRBS 測試置于連續模式。在連續模式下，當 BIST 錯誤計數器達到最大值時，此計數器再次從零開始計數。要讀取 BIST 錯誤計數，必須將 BICSR1 中的位 [15] 設置為“1”。該設置鎖定 BIST 錯誤的當前值，以供讀取。設置第 [15] 位會清除 BIST 錯誤計數器。