PHY 層包含用于生成眼圖的功能，并支持多種不同的模式（如需模式列表，請參閱 ES 寄存器）。以下各節介紹了如何從器件生成眼圖掃描數據以及一些構建眼圖的方法。
- 按照 DUC 模式的啟動過程中的步驟，為 JESD204C 運行配置器件。設置 JESD_EN=1 后返回此處。既可以使用 JESD204C 位流運行眼圖掃描，也可以使用通用 PRBS 輸入激勵來運行。眼圖掃描同時在所有已啟用的物理通道上運行。
- 將 ES 編程為所需的眼圖掃描模式。
- 如果 ES 小于 8，則必須將 ESVO 編程為所需的電壓偏移。在其他模式下，眼圖掃描邏輯會自動調節眼圖掃描采樣器的失調電壓。
- 將 ESPO 編程為所需的相位偏移。
- 將 ES_BIT_SELECT 編程為 0 至 19 之間的值。每 20 個接收位（抽取因子為 20）進行一次眼圖掃描分析。ES_BIT_SELECT 用于調節該抽取相位。對于隨機激勵，這不會影響結果。如果輸入具有重復模式，這可能會影響結果。
- 將 ESLEN 編程為所需的樣本數。設置越高，結果越一致。
- 設置 ECOUNT_CLR = 1，然后設置 ECOUNT_CLR 以清除錯誤計數器。建議執行此步驟，但如果需要，則可以跳過此步驟（例如，將來自多個眼圖掃描運行的計數相加）。如果不使用 ECOUNT（對于 ES 為 8 或更大的模式），也可以跳過此設置。
- 編程 ESRUN = 1 以開始掃描。
- 輪詢 ESDONE，直到 ESDONE 為您要運行眼圖掃描的每個通道返回 1。
- 如果所選的眼圖掃描模式修改了眼圖掃描電壓偏移（內部/外部/平均模式），則讀取 ESVO_S 以獲得內部/外部/平均眼圖邊界。對于其他眼圖掃描模式，則讀取 ECOUNT 以返回記錄的不匹配（或匹配）數量。
- 編程設定 ESRUN = 0。
- 返回至步驟 2，以運行另一個眼圖掃描數據收集過程。在步驟 2 到 12 的多次迭代期間，接收器可以保持啟用狀態。
有兩種基本方法可以使用眼圖掃描功能構建眼圖。
- 1.使用 ESVO_S 的快速方法：
- 對 ESPO 的每個有效值重復上述過程。對于 ESPO 的每個值，運行 0 和 1 的內眼分析。這會找到 ESPO 的每個值的最大零 (ESVOmax0) 和最小一 (ESVOmin1)。
- ESVOmax0 和 ESVOmin1（含）之間的所有眼圖單元均為黑色，其他單元均為白色。
- 通過包括外部和/或平均分析，可以將其他詳細信息添加到眼圖中（請參閱 ES）。例如，通過平均分析生成的 ESVO_S 值可以標為紅色，而包括內部分析值和外部分析值在內的所有其他值都標為白色。
- 使用 ECOUNT 的詳細方法：
- 選擇一種可以對不匹配問題進行計數的眼圖掃描模式。對 ESVO 和 ESPO 的每個有效值重復上述步驟。
- 每次運行后，記錄 ECOUNT 值（每次運行前復位 ECOUNT）。
- 每次眼圖掃描對應于眼圖的一個單元。ESPO 是單元的 x 坐標。ESVO 是單元的 y 坐標。單元的強度與 ECOUNT/Nsamples 成正比，其中 Nsamples 是每次運行所分析的樣本數量（由 ESLEN 確定）。
- 這種方法需要更多的時間來運行，但可以提供更精細的眼圖。