ZHCSX40B September 2024 – June 2025 ADC3668 , ADC3669
PRODUCTION DATA
8.3.9.7 測試圖形
該器件具有內置測試圖形發生器，可簡化 LVDS 輸出的調試和/或校準。測試圖形發生器位于 DDC 之后，如圖 8-67 所示。
圖 8-67 測試圖形發生器啟用測試圖形發生器（0x14A 中的寄存器 <TEST PATTERN>）會替換所有電流輸出數據樣本、正常 ADC 或抽取數據。所有通道的測試圖形都相同。測試圖形塊生成 20 位測試圖形，圖形由 <TEST PATTERN> 字段的值控制。
在抽取中，測試圖形塊默認采用抽取的時鐘運行，并且可以通過設置寄存器 0x14A 的 <PATTERN CLK> 字段切換到采用 FS 時鐘運行。無法在低延遲工作模式下啟用測試圖形功能。
以下寄存器寫入可用于配置步長為 1 且輸出分辨率為 16 位的斜坡圖形。表 8-14 具有自定義步長的斜坡圖形配置示例
| ADDR | DATA | 說明 |
|---|---|---|
| 0x14A | 0x02 | 啟用具有自定義步長的斜坡圖形 |
| 0x14B | 0x10 | 步長為 16 LSB（在 20 位分辨率下），相當于 16 位分辨率下的 1 LSB |