TPD4E110
- 為低壓輸入輸出 (IO) 接口提供系統級靜電放電 (ESD) 保護
- IO 電容值 0.45pF（典型值）
- IEC 61000-4-2 4 級
- ±12kV（接觸放電）
- ±15kV（空氣間隙放電)
- IEC 61000-4-5（浪涌）：2.5A (8/20μs)
- 直流擊穿電壓 6.5V（最小值）
- 超低泄露電流 1nA（最大值）
- 低 ESD 鉗位電壓
- 工業溫度范圍：-40°C 至 125°C
- 最大限度減少空間的 0.8mm x 0.8mm DPW 封裝
應用范圍
- USB 3.0
- HDMI 2.0
- 低壓差分信令 (LVDS)
- DisplayPort
- PCI Express 接口
- eSata 接口
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TPD4E110 是一款具有超低電容值的單向靜電放電 (ESD) 保護器件。 此器件由一個中央 ESD 鉗位組成，并且在每個通道中特有兩個隱藏的二極管，以減少電容負載。 每條通道額定 ESD 沖擊消散值高于 IEC61000-4-2 4 級國際標準中規定的最高水平。 TPD4E110 的超低負載電容值使得此器件非常適合于保護高速信號引腳。
技術文檔
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查看全部 6 | 類型 | 標題 | 下載最新的英語版本 | 日期 | |||
|---|---|---|---|---|---|---|
| * | 數據表 | TPD4E110 4 通道保護解決方案，用于超高速（高達 6GBPS）接口 數據表 (Rev. B) | PDF | HTML | 英語版 (Rev.B) | PDF | HTML | 2014年 5月 12日 |
| 選擇指南 | System-Level ESD Protection Guide (Rev. E) | 2025年 8月 5日 | ||||
| 應用手冊 | 用于 USB 接口的 ESD 和浪涌保護 (Rev. B) | PDF | HTML | 英語版 (Rev.B) | PDF | HTML | 2024年 1月 23日 | |
| 應用簡報 | 針對 HDMI 應用的 ESD 保護 (Rev. A) | PDF | HTML | 英語版 (Rev.A) | PDF | HTML | 2023年 11月 9日 | |
| 應用手冊 | ESD 包裝和布局指南 (Rev. B) | PDF | HTML | 英語版 (Rev.B) | PDF | HTML | 2022年 9月 14日 | |
| 白皮書 | Designing USB for short-to-battery tolerance in automotive environments | 2016年 2月 10日 |
設計和開發
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評估板
ESDEVM — 適用于 ESD 二極管封裝（包括 0402、0201 等）的通用評估模塊
靜電敏感器件 (ESD) 評估模塊 (EVM) 是用于 TI 大部分 ESD 產品系列的開發平臺。為了測試任何型號的器件，該電路板支持所有傳統的 ESD 封裝結構。器件可以焊接到相應封裝結構，然后進行測試。如果是典型的高速 ESD 二極管，則應采用阻抗受控布局來獲取 S 參數并剝離電路板引線。如果是非高速 ESD 二極管，則應采用有布線連接到測試點的封裝結構，以便輕松運行直流測試，例如擊穿電壓、保持電壓、漏電流等。該電路板布局布線還可以通過將信號引腳短接至信號所在的位置，輕松地將任何器件引腳連接到電源 (VCC) 或地。
| 封裝 | 引腳 | CAD 符號、封裝和 3D 模型 |
|---|---|---|
| X2SON (DPW) | 4 | Ultra Librarian |
訂購和質量
包含信息：
- RoHS
- REACH
- 器件標識
- 引腳鍍層/焊球材料
- MSL 等級/回流焊峰值溫度
- MTBF/時基故障估算
- 材料成分
- 鑒定摘要
- 持續可靠性監測
包含信息：
- 制造廠地點
- 封裝廠地點
推薦產品可能包含與 TI 此產品相關的參數、評估模塊或參考設計。