SN74LVC1G332

正在供貨

單通道、3 輸入、1.65V 至 5.5V、32mA 驅(qū)動強(qiáng)度或門

產(chǎn)品詳情

Technology family LVC Supply voltage (min) (V) 1.65 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 1 Inputs per channel 3 IOL (max) (mA) 32 IOH (max) (mA) -32 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Ultra high speed (tpd <5ns) Data rate (max) (Mbps) 100 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 125
Technology family LVC Supply voltage (min) (V) 1.65 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 1 Inputs per channel 3 IOL (max) (mA) 32 IOH (max) (mA) -32 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Ultra high speed (tpd <5ns) Data rate (max) (Mbps) 100 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 125
DSBGA (YZP) 6 2.1875 mm2 1.75 x 1.25 SOT-23 (DBV) 6 8.12 mm2 2.9 x 2.8 SOT-5X3 (DRL) 6 2.56 mm2 1.6 x 1.6 SOT-SC70 (DCK) 6 4.2 mm2 2 x 2.1 USON (DRY) 6 1.45 mm2 1.45 x 1 X2SON (DSF) 6 1 mm2 1 x 1
  • Available in the Texas Instruments NanoStar and NanoFree Packages
  • Supports 5-V VCC Operation
  • Inputs Accept Voltages to 5.5 V
  • Supports Down Translation to VCC
  • Max tpd of 4.5 ns at 3.3 V
  • Low Power Consumption, 10-μA Max ICC
  • ±24-mA Output Drive at 3.3 V
  • Ioff Supports Live Insertion, Partial-Power-Down Mode, and Back-Drive Protection
  • Latch-Up Performance Exceeds 100 mA Per
    JESD 78, Class II
  • ESD Protection Exceeds JESD 22
    • 2000-V Human-Body Model (A114-A)
    • 200-V Machine Model (A115-A)
    • 1000-V Charged-Device Model (C101)
  • Available in the Texas Instruments NanoStar and NanoFree Packages
  • Supports 5-V VCC Operation
  • Inputs Accept Voltages to 5.5 V
  • Supports Down Translation to VCC
  • Max tpd of 4.5 ns at 3.3 V
  • Low Power Consumption, 10-μA Max ICC
  • ±24-mA Output Drive at 3.3 V
  • Ioff Supports Live Insertion, Partial-Power-Down Mode, and Back-Drive Protection
  • Latch-Up Performance Exceeds 100 mA Per
    JESD 78, Class II
  • ESD Protection Exceeds JESD 22
    • 2000-V Human-Body Model (A114-A)
    • 200-V Machine Model (A115-A)
    • 1000-V Charged-Device Model (C101)

The SN74LVC1G332 device performs the Boolean function in positive logic.

NanoStar™ and NanoFree™ package technology is a major breakthrough in IC packaging concepts, using the die as the package.

This device is fully specified for partial-power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the device when it is powered down.

The SN74LVC1G332 device performs the Boolean function in positive logic.

NanoStar™ and NanoFree™ package technology is a major breakthrough in IC packaging concepts, using the die as the package.

This device is fully specified for partial-power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the device when it is powered down.
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技術(shù)文檔

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設(shè)計和開發(fā)

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5-8-LOGIC-EVM — 支持 5 至 8 引腳 DCK、DCT、DCU、DRL 和 DBV 封裝的通用邏輯評估模塊

靈活的 EVM 設(shè)計用于支持具有 5 至 8 引腳數(shù)且采用 DCK、DCT、DCU、DRL 或 DBV 封裝的任何器件。
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仿真模型

SN74LVC1G332 Behavioral SPICE Model

SCEM631.ZIP (8 KB) - PSpice Model
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仿真模型

SN74LVC1G332 IBIS Model (Rev. A)

SCEM371A.ZIP (44 KB) - IBIS Model
下載
參考設(shè)計

TIDM-SERVODRIVE — 工業(yè)伺服驅(qū)動器和交流逆變器驅(qū)動器參考設(shè)計

DesignDRIVE 開發(fā)套件是直接連接到三相 ACI 或 PMSM 電機(jī)的完整工業(yè)驅(qū)動的參考設(shè)計。通過此單一平臺中包含的控制、電源和通信組合技術(shù)可創(chuàng)建出眾多驅(qū)動拓?fù)洹４嗽O(shè)計包含多個位置傳感器接口、不同的電流感應(yīng)技術(shù)、熱側(cè)分區(qū)選項和擴(kuò)展，旨在實現(xiàn)安全的工業(yè)以太網(wǎng)。
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參考設(shè)計

TIDA-00548 — 適用于安全應(yīng)用的 4-20mA 模擬輸入模塊參考設(shè)計

TIDA-00548 是一種隔離式雙通道 4-20mA 模擬輸入?yún)⒖荚O(shè)計，可將其用作功能安全可編程邏輯控制器 (PLC) 的一部分。該參考設(shè)計使用 32 位高性能模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC) 來提供數(shù)字化輸入值。基于 RM4x 雙核 ARM? Cortex?-R4 的 CPU 具備鎖步技術(shù)和內(nèi)置自檢 (BIST) 功能，可比較最多九條可選模擬輸入信號鏈路徑的轉(zhuǎn)換值。具有兩個單獨負(fù)載電阻器的雙輸入方式可對 4-20mA 的單環(huán)路或兩個獨立環(huán)路進(jìn)行冗余測量。面向功能安全應(yīng)用的基于 Hercules? RM ARM Cortex-R 的 MCU 可幫助根據(jù) IEC 61508 SIL 3 來開發(fā)系統(tǒng)。
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參考設(shè)計

TIDA-01552 — 適用于數(shù)字輸出模塊的 8 通道 2A 高側(cè)驅(qū)動器參考設(shè)計

這種用于 PLC 等工廠自動化應(yīng)用的八通道并聯(lián) 2A 高側(cè)數(shù)字輸出參考設(shè)計可顯示德州儀器 (TI) 新型高側(cè)驅(qū)動器元件（如 TPS27S100）的診斷功能和功率密度。每個輸出可以單獨實時測量輸出電流。利用該特性，可以在運行期間檢測斷線和短路。還可以發(fā)現(xiàn)由于老化或篡改導(dǎo)致的輸出負(fù)載修改。
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TIDA-01333 — 采用 ISOW7841 的 8 通道隔離式高電壓模擬輸入模塊參考設(shè)計

TIDA-01333 隔離式高電壓模擬輸入模塊參考設(shè)計有八個通道，每個通道都支持電壓和電流測量。此外，4 個通道還支持高達(dá) ±160V 的共模電壓。該器件通過 ISOW7841 在單個芯片內(nèi)實現(xiàn)了 +5V 線路和串行外設(shè)接口 (SPI) 通信的隔離。該設(shè)計采用了 ADS8681，這是一款 16 位模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC)，可以處理高達(dá) ±12.288V 的輸入電壓。因此不必再對工業(yè)領(lǐng)域中的標(biāo)準(zhǔn)輸入電壓進(jìn)行任何預(yù)處理。
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參考設(shè)計

TIDA-00550 — 用于 PLC 的雙通道間隔離式通用模擬輸入模塊參考設(shè)計

適用于可編程邏輯控制器 (PLC) 的 TIDA-00550 雙通道到通道隔離式通用模擬輸入模塊參考設(shè)計將精度和靈活性集于一身。與傳感器變送器結(jié)合使用時，該參考設(shè)計可測量標(biāo)準(zhǔn)輸入電壓和電流以及熱電偶、RTD 和 4-20mA 的回路。它只有四個輸入端子，適用于同時需要最小空間、高多功能性和高性能的應(yīng)用。
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參考設(shè)計

TIDA-00560 — 用于 PLC 模塊的 16 通道狀態(tài) LED 驅(qū)動器參考設(shè)計

TIDA-00560 的目標(biāo)是展示 PLC I/O 模塊中所需的多通道 LED 驅(qū)動器，以指示多個模擬、數(shù)字輸入和輸出通道的狀態(tài)。該設(shè)計滿足了低靜態(tài)電流、低元件數(shù)量、最少 PCB 要求和集成式 LED 診斷功能的重要要求。兩層單側(cè)元件安裝板與 Beaglebone Cape 規(guī)范兼容，可使用 BeagleBone 平臺進(jìn)行快速評估。
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參考設(shè)計

TIDA-00764 — 8 通道隔離式高壓模擬輸入模塊參考設(shè)計

此參考設(shè)計是具有八個通道的高電壓模擬輸入模塊。每個通道均可用于電壓和電流的測量。該設(shè)計使用 16 位模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC) ADS8681，可處理高達(dá) ±12.288V 的輸入電壓。因此，不再需要對工業(yè)領(lǐng)域中的標(biāo)準(zhǔn)輸入電壓進(jìn)行任何預(yù)處理。此外，該設(shè)計的四個通道能夠接受高達(dá) ±160V 的共模 (CM) 電壓。因此，用戶并不需要擔(dān)心接地環(huán)路或補償電流在連接的輸入之間流動。
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參考設(shè)計

TIDEP0056 — 基于 BeagleBone Black、采用 PRU-ICSS 的熱打印參考設(shè)計

可編程實時單元–工業(yè)通信子系統(tǒng) (PRU-ICSS) 是 AM335x SoC 的一個多功能組件，即使在運行非確定性操作系統(tǒng)時也能實現(xiàn)實時、確定性和快速的 GPIO 控制。此參考設(shè)計提供了直接控制熱敏打印機(jī)模塊的 PRU-ICSS 的具體用例和實現(xiàn)方案。  其中包括 ARM 與 PRU 通信的 C 代碼示例、用于驅(qū)動熱敏打印頭元件和步進(jìn)電機(jī)的實時 GPIO 引腳控制功能，以及引腳多路復(fù)用配置。
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封裝 引腳 CAD 符號、封裝和 3D 模型
DSBGA (YZP) 6 Ultra Librarian
SOT-23 (DBV) 6 Ultra Librarian
SOT-5X3 (DRL) 6 Ultra Librarian
SOT-SC70 (DCK) 6 Ultra Librarian
USON (DRY) 6 Ultra Librarian
X2SON (DSF) 6 Ultra Librarian

訂購和質(zhì)量

包含信息：
  • RoHS
  • REACH
  • 器件標(biāo)識
  • 引腳鍍層/焊球材料
  • MSL 等級/回流焊峰值溫度
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  • 材料成分
  • 鑒定摘要
  • 持續(xù)可靠性監(jiān)測
包含信息：
  • 制造廠地點
  • 封裝廠地點

支持和培訓(xùn)

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