SN3257-Q1
- 提供功能安全
- 符合面向汽車應(yīng)用的 AEC-Q100 標(biāo)準(zhǔn)
- 溫度等級 1:-40°C 至 +125°C,TA
- 寬電源電壓范圍:1.5V 至 5.5V
- 低傳播延遲:78 ps
- 低導(dǎo)通電阻:5Ω
- 高帶寬:2 GHz
- 雙向信號路徑
- 支持超出電源的輸入電壓
- 兼容 1.8V 邏輯電平
- 邏輯引腳上帶有集成下拉電阻器
- 失效防護邏輯
- 高達(dá) 3.6V 信號的斷電保護
SN3257-Q1 是一款汽車級互補金屬氧化物半導(dǎo)體 (CMOS) 開關(guān),支持高速信號,具有低傳播延遲。 SN3257-Q1 提供具有 4 個通道的 2:1 (SPDT) 開關(guān)配置,非常適合 SPI 和 I2S 等各通道協(xié)議。此器件可在源極(SxA、SxB)和漏極 (Dx) 引腳上支持雙向模擬和數(shù)字信號,并且能夠傳遞高于電源電壓(最高 VDD x 2)的信號,最大輸入和輸出電壓為 5.5V。
SN3257-Q1 具有一個低電平有效 EN 引腳,用于同時啟用和禁用所有通道。當(dāng) EN 引腳為低電平時,會根據(jù) SEL 引腳的狀態(tài)選擇兩個開關(guān)路徑之一。
SN3257-Q1 的信號路徑上高達(dá) 3.6V 的關(guān)斷保護功能可在移除電源電壓 (VDD = 0V) 時提供隔離。如果沒有該保護功能,開關(guān)可通過內(nèi)部 ESD 二極管為電源軌進(jìn)行反向供電,從而對系統(tǒng)造成潛在損壞。
失效防護邏輯電路允許在施加電源引腳上的電壓之前,先施加邏輯控制引腳上的電壓,從而保護器件免受潛在的損害。兩個邏輯控制輸入都具有兼容 1.8V 邏輯的閾值,可確保 TTL 和 CMOS 邏輯兼容性。邏輯引腳上帶有集成下拉電阻器,無需外部組件,可減小系統(tǒng)尺寸、降低系統(tǒng)成本。
技術(shù)文檔
設(shè)計和開發(fā)
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16DYYPWEVM — 面向 SOT-23 薄型 (DYY) 和 TSSOP (PW) 封裝的測試板
LEADED-ADAPTER1 — 表面貼裝轉(zhuǎn) DIP 接頭適配器,用于快速測試 TI 的 5、8、10、16 和 24 引腳引線式封裝。
EVM-LEADED1 電路板可用于對 TI 的常見引線式封裝進(jìn)行快速測試和電路板試驗。? 該電路板具有足夠的空間,可將 TI 的 D、DBQ、DCT、DCU、DDF、DGS、DGV 和 PW 表面貼裝封裝轉(zhuǎn)換為 100mil DIP 接頭。?????
| 封裝 | 引腳 | CAD 符號、封裝和 3D 模型 |
|---|---|---|
| SOT-23-THN (DYY) | 16 | Ultra Librarian |
| TSSOP (PW) | 16 | Ultra Librarian |
訂購和質(zhì)量
- RoHS
- REACH
- 器件標(biāo)識
- 引腳鍍層/焊球材料
- MSL 等級/回流焊峰值溫度
- MTBF/時基故障估算
- 材料成分
- 鑒定摘要
- 持續(xù)可靠性監(jiān)測
- 制造廠地點
- 封裝廠地點
推薦產(chǎn)品可能包含與 TI 此產(chǎn)品相關(guān)的參數(shù)、評估模塊或參考設(shè)計。