AFE1256

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適用于數字 X 射線平板檢測器的 256 通道模擬前端 (AFE)

產品詳情

Number of input channels 256 Resolution (Bits) 16 Features Internal Reference Buffer, Nap Mode, Power Down, X-ray Interface type SPI Operating temperature range (°C) 0 to 70 Rating Catalog
Number of input channels 256 Resolution (Bits) 16 Features Internal Reference Buffer, Nap Mode, Power Down, X-ray Interface type SPI Operating temperature range (°C) 0 to 70 Rating Catalog
COF (TDS) 314 1064 mm2 38 x 28 DIESALE (TD) — See data sheet
  • 256 個通道
  • 片上 16 位模數轉換器 (ADC)
  • 光電二極管抗短路
  • 數據線（列）抗短路
  • 高性能：
    • 噪聲：758 electronRMS (eRMS)，1.2pC 范圍內的 28pF 傳感器電容器
    • 積分非線性：
      內部 16 位 ADC 的 ±2 最低有效位 (LSB)
    • 最小掃描時間：
      • 正常模式下為 37.9μs
      • 2x 雙像素模式下為 20μs
  • 集成：
    • 8 個可選滿量程范圍：
      0.15pC（最小值）至 9.6pC（最大值）
    • 內置相關雙采樣器
    • 針對更快速數據吞吐量的 2x 雙像素模式（兩個相鄰通道的平均充電）
    • 管道式積分和讀取：積分期間允許數據讀取
  • 靈活性：
    • 電子和空穴積分
  • 低功耗：
    • 具有 ADC 時，每通道 2.9mW
    • 無 ADC 時，每通道 2.3mW
    • 打盹模式時，每通道 0.1mW
    • 總斷電特性
  • 22mm x 5mm 凸出式金屬接點芯片，
    適用于帶載封裝 (TCP) 和 覆晶薄膜封裝 (COF)

應用范圍

    平板 X 射線檢測器

All trademarks are the property of their respective owners.

  • 256 個通道
  • 片上 16 位模數轉換器 (ADC)
  • 光電二極管抗短路
  • 數據線（列）抗短路
  • 高性能：
    • 噪聲：758 electronRMS (eRMS)，1.2pC 范圍內的 28pF 傳感器電容器
    • 積分非線性：
      內部 16 位 ADC 的 ±2 最低有效位 (LSB)
    • 最小掃描時間：
      • 正常模式下為 37.9μs
      • 2x 雙像素模式下為 20μs
  • 集成：
    • 8 個可選滿量程范圍：
      0.15pC（最小值）至 9.6pC（最大值）
    • 內置相關雙采樣器
    • 針對更快速數據吞吐量的 2x 雙像素模式（兩個相鄰通道的平均充電）
    • 管道式積分和讀取：積分期間允許數據讀取
  • 靈活性：
    • 電子和空穴積分
  • 低功耗：
    • 具有 ADC 時，每通道 2.9mW
    • 無 ADC 時，每通道 2.3mW
    • 打盹模式時，每通道 0.1mW
    • 總斷電特性
  • 22mm x 5mm 凸出式金屬接點芯片，
    適用于帶載封裝 (TCP) 和 覆晶薄膜封裝 (COF)

應用范圍

    平板 X 射線檢測器

All trademarks are the property of their respective owners.

AFE1256 是一款 256 個通道模擬前端 (AFE)，此器件被設計成滿足基于平板檢測器 (FPD) 的數字 X 射線系統的的要求。此器件包括 256 個積分器，一個用于滿量程充電電平選擇的可編程增益放大器 (PGA)，一個具有雙組的相交雙采樣器 (CDS)，256:4 模擬復用器和四個板載 16 位，逐次逼近寄存器 (SAR) 模數轉換器 (ADC)。ADC 提供格式為 SPI的串行數據。

硬件可選積分極性可實現正或負電荷積分，并在系統設計中提供更多的靈活性。此打盹特性大大節省了能耗。這一節電特性特別適合于電池供電類系統。

該器件可以 22mm × 5mm 凸出式金屬接點芯片形式提供，也提供 38mm × 28mm、COF-314 TDS 封裝。

如需完整數據表或其他設計資源，請點擊：請求獲取 AFE1256

AFE1256 是一款 256 個通道模擬前端 (AFE)，此器件被設計成滿足基于平板檢測器 (FPD) 的數字 X 射線系統的的要求。此器件包括 256 個積分器，一個用于滿量程充電電平選擇的可編程增益放大器 (PGA)，一個具有雙組的相交雙采樣器 (CDS)，256:4 模擬復用器和四個板載 16 位，逐次逼近寄存器 (SAR) 模數轉換器 (ADC)。ADC 提供格式為 SPI的串行數據。

硬件可選積分極性可實現正或負電荷積分，并在系統設計中提供更多的靈活性。此打盹特性大大節省了能耗。這一節電特性特別適合于電池供電類系統。

該器件可以 22mm × 5mm 凸出式金屬接點芯片形式提供，也提供 38mm × 28mm、COF-314 TDS 封裝。

如需完整數據表或其他設計資源，請點擊：請求獲取 AFE1256
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* 數據表 AFE1256 用于數字 X 射線平板探測器、的 256 通道模擬前端 數據表 (Rev. D) PDF | HTML 英語版 (Rev.D) PDF | HTML 2016年 6月 24日
模擬設計期刊 選擇多通道超低電流測量 IC PDF | HTML 英語版 PDF | HTML 2022年 1月 20日
EVM 用戶指南 AFE1256COF EVM Introduction User Guide 2013年 11月 5日

設計和開發

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評估板

AFE1256EVM — AFE1256 適用于數字 X 射線平板檢測器的 256 通道 AFE 評估模塊

AFE1256EVM 是用于評估 256 通道模擬前端 AFE1256 COF 的基于緊湊型 USB 的評估套件。此 EVM 是一種包含 DAC 和板載信號發生器的自成一體模塊，可大大減小對外部設備的依賴，其全部所需僅僅是電源。此套件包含 EVM 和單獨 COF 適配器以及簡單易用的軟件，可用于評估 COF 器件的性能。COF 適配器是分離式模塊，因此一次 EVM 設置可評估多個 COF 適配器。USB 2.0 接口可提供快速配置下載，并通過微控制器實現 FPGA-PC 通信。

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PSPICE-FOR-TI — PSpice? for TI 設計和仿真工具

PSpice? for TI 可提供幫助評估模擬電路功能的設計和仿真環境。此功能齊全的設計和仿真套件使用 Cadence? 的模擬分析引擎。PSpice for TI 可免費使用，包括業內超大的模型庫之一，涵蓋我們的模擬和電源產品系列以及精選的模擬行為模型。

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COF (TDS) 314 Ultra Librarian
DIESALE (TD) —

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